罗军 作品数:4 被引量:10 H指数:2 供职机构: 信息产业部电子第五研究所 更多>> 相关领域: 自动化与计算机技术 电子电信 更多>>
基于主成分分析的温度对Flash存储器电参数一致性分析 被引量:2 2017年 针对温度对闪存(Flash)存储器电参数的一致性影响特性尚不清晰、一致性分析评价方法不明确等问题,提出采用主成分分析法对Flash存储器中的不同电参数进行一致性分析。实验结果表明:温度会对Flash存储器的电参数漂移产生影响,随着温度的升高或降低,Flash存储器电参数的主成分均值与方差具有相反的变化趋势。基于主成分分析法为Flash存储器的电参数一致性评价提供一种手段,温度对其电参数一致性的影响特性对保障产品的质量及改进设计具有指导意义。 李军求 张菊荣 罗军 王小强关键词:闪存存储器 主成分分析 电参数 一致性 基于SPEC 2000的桌面操作系统与处理器适配评测 被引量:1 2016年 桌面操作系统与处理器的适配评测是提升国产计算机系统质量的重要途径,传统桌面操作系统的评测侧重于软件本身的测试,不能够全面反映其与处理器的适配性能。基于SPEC 2000基准程序集,提出通过比较基准程序集在不同桌面操作系统下的评测分值差异来反映桌面操作系统与处理器的适配性能。进一步提出了剔除程度因子(λ)用以分析不同基准程序对任意两个桌面操作系统评测分值差值的影响,并选用了三种典型的桌面操作系统进行了验证。实验结果表明,剔除对两桌面操作系统差值较大的基准程序或者差值较小的基准程序在一定的λ值下会使不同桌面操作系统下的SPEC 2000整点运算评测分值发生逆转。文中提出的方法是相关软件评测标准在软硬件适配性能维度上的扩展,剔除程度因子的提出有利于判定对桌面操作系统评测分值差值影响较大的基准程序,进而可用于指导桌面操作系统和基准程序的改进和优化。 罗军 吕宏峰 王小强 孙宇关键词:操作系统 SPEC 处理器 评测 Flash存储器并行耐久测试方法 被引量:5 2016年 传统闪存(Flash)芯片耐久测试需要对整块芯片按扇区串行进行擦写测试,测试时间长、效率低、成本高,不利于其批量耐久测试和产业化发展。该文基于"资源换速度"的思想提出一种高效的Flash存储器并行耐久测试方法,通过对多片Flash芯片并行进行擦写测试,对不同芯片擦写不同扇区来提升其耐久测试效率,并进一步对耐久测试Flash芯片的不同扇区等效性进行分析,对等效性需要满足的条件和要求进行探讨。实验结果表明:并行耐久测试能有效缩短测试时间,其效率提升程度与并行测试的芯片数量成正比,加速测试结果与理论曲线符合较好。 罗军 王小强 蔡志刚 孙宇 吕宏峰关键词:闪存 并行测试 低压差线性电压调整器电源纹波抑制比测试方法 被引量:3 2017年 低压差线性电压调整器应用广泛,电源纹波抑制比是反映其性能指标的关键参数之一。为解决传统电源纹波抑制比测试方法测量频率范围较小、测试效率低、难以满足高电源纹波抑制比测试等不足,提出基于功率分配器和低频网络分析仪相结合的电源纹波抑制比测试方法,并采用典型低压差线性电压调整器对基于功率分配器和基于电感电容总和节点法的两种测试方法进行测试验证。实验结果表明:基于功率分配器的电源纹波抑制比测试方法最低测试频率可达30 Hz,可满足70 d B以上电源纹波抑制比的测试需求,具有频率测量范围更宽、测试效率高等特点。 尚斌 罗军 蔡志刚 王小强