程晓辉
- 作品数：12 被引量：16H指数：3
- 供职机构：中国电子科技集团第十三研究所更多>>
- 相关领域：电子电信一般工业技术电气工程机械工程更多>>
- 基于红外测温技术的微波功率器件降温曲线测量系统被引量：5
- 2016年
- 为了有效实现对微波功率器件的热特性分析,在瞬态红外设备基础上开发了一套用于获取微波功率器件降温曲线的测量系统。分析了瞬态红外设备的原理,并根据降温曲线测量的需要对设备进行改造,开发了数据采集和处理系统,扩展了原有设备的功能,重新设计了测温流程、数据处理算法和相应的软件系统,实现了对GaN HEMT器件不同工作条件下降温曲线的测量。测量的降温曲线满足现有国际标准JESD51系列的要求,在器件热特性分析方面具有较好的应用前景。
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- 关键词：红外测温技术电学法
- 电学法热阻测试仪校准方法研究被引量：3
- 2015年
- 论文分析了电学法热阻测试仪的工作原理及测量过程,明确了测量过程中各个电、热参数对热阻测试结果的作用和意义。由热阻的基本定义出发,推导出了各种电热参数与热阻之间的测量模型,选择K系数测量电流的短期稳定性,电压测量值,加热电流和加热电压,加热平台温度,参考位置温度为主要校准参数。从整体校准的角度,给出了校准方法,分析了各种影响量引入的测量不确定度,给出了最终测量不确定度评定过程。为实现电学法热阻测试仪的整体校准奠定了基础。
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- 关键词：电学法校准测量不确定度
- 用于校准在片高值电阻测量系统的标准件及其制备方法
- 本发明公开了一种用于校准在片高值电阻测量系统的标准件及其制备方法，涉及计量技术领域。本发明的标准件包括衬底，在衬底上注入硼离子，在注入硼离子的衬底上设有若干对金属电极，每一对金属电极构成一个独立单元，在同一个衬底上的所有...
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- 文献传递
- 1mV～10mV直流电压的高准确度校准被引量：2
- 2019年
- 针对1mV～10mV直流电压溯源方面存在的问题,提出采用恒流源、标准取样电阻和标准直流电压表的方法对较小的直流电压进行校准。采用5720A输出稳定的直流电流,用742A作为取样电阻,用8508A作为标准直流电压表,根据欧姆定律进行校准工作,并给出了消除或减小校准过程中存在的各种影响量的途径。对数字多用表8508A进行校准,分别评定了1mV、10mV点的测量不确定度,通过与分压箱法的对比和传递比较法验证,证明了取样电阻法的可行性和准确性,能够满足1mV～10mV小电压校准需求。
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- 关键词：直流电压校准取样电阻测量不确定度
- 半导体特性分析仪高值电压的精确校准方法
- 本发明公开了一种半导体特性分析仪高值电压的精确校准方法，涉及专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备技术领域。包括以下步骤：将高压分压器送往上级计量技术机构，获取其1000V～3000V的分压比，并计算其...
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- 文献传递
- 一种基于热阻标准件的热阻测量仪器校准方法及装置
- 本发明适用于半导体技术领域，提供了一种基于热阻标准件的热阻测量仪器校准方法及装置，该方法包括：控制热阻标准件处于预设温度下，向热阻标准件输入预设测试电流，并测量热阻标准件的第一结电压，根据预设温度和第一结电压确定热阻标准...
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- 用于校准在片高值电阻测量系统的标准件
- 本发明提供了一种用于校准在片高值电阻测量系统的标准件，涉及计量技术领域。本发明的标准件包括衬底，在衬底上注入硼离子，在注入硼离子的衬底上设有若干对金属电极，每一对金属电极构成一个独立单元，在同一个衬底上的所有的金属电极的...
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- 文献传递
- 结温准确性对GaN HEMT加速寿命评估的影响被引量：2
- 2017年
- 通过对阿伦尼斯方程进行研究,指出了结温检测结果的误差将会影响加速寿命试验结果的准确性。根据GaN HEMT加速寿命试验中常用的结温获取方式,分别讨论了采用热阻修正结温和直接测量结温两种方式获取结温对器件寿命评估结果造成的影响。研究了Cree公司GaN HEMT结温测量方法,指出依据显微红外测温结果得到的加速寿命数据与依据有限元仿真得到的加速寿命数据相差近4倍。
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- 关键词：工作寿命加速寿命试验结温
- 用于校准在片高值电阻测量系统的标准件
- 本实用新型公开了一种用于校准在片高值电阻测量系统的标准件，涉及计量技术领域。本实用新型的标准件包括衬底，在衬底上注入硼离子，在注入硼离子的衬底上设有若干对金属电极，每一对金属电极构成一个独立单元，在同一个衬底上的所有的金...
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- 文献传递
- 一种基于热阻标准件的热阻测量仪器校准方法及装置
- 本发明适用于半导体技术领域，提供了一种基于热阻标准件的热阻测量仪器校准方法及装置，该方法包括：控制热阻标准件处于预设温度下，向热阻标准件输入预设测试电流，并测量热阻标准件的第一结电压，根据预设温度和第一结电压确定热阻标准...
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- 文献传递
