黄浩
- 作品数：16 被引量：20H指数：3
- 供职机构：中国科学院上海微系统与信息技术研究所更多>>
- 发文基金：中国科学院“百人计划”上海市“科技创新行动计划”国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：电子电信金属学及工艺理学机械工程更多>>
- 一种超导转变边探测器的制备方法
- 本申请提供一种超导转变边探测器的制备方法，包括以下步骤：通过磁控溅射方法在衬底上制备铝(Al)薄膜；对Al薄膜进行光刻和湿法刻蚀处理；获取探测器薄膜和电极图形；对Al薄膜再次进行光刻处理，采用光刻胶覆盖电极图形区域；采用...
- 高波吕越黄浩游天桂欧欣王镇
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- 一种利用离子注入实现目标薄膜纵向均匀掺杂的方法
- 本发明提供一种利用离子注入实现目标薄膜纵向均匀掺杂的方法，包括于目标薄膜的厚度方向上选取N个不同的注入深度峰值点；确定待注入离子并提供M组预设注入条件以模拟待注入离子注入目标薄膜时的离子注入过程，得到注入能量‑注入深度分...
- 吕越黄浩贾棋游天桂伍文涛欧欣高波王镇
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- 一种压电薄膜的制备方法、压电薄膜及声表面波滤波器
- 本发明公开了压电薄膜的制备方法、压电薄膜及声表面波滤波器，该方法包括：对压电晶圆进行离子注入剥离，得到表面具有离子注入损伤层的初始压电薄膜；在预设温度范围内，通过氟离子对初始压电薄膜进行低能离子辐照去除所述离子注入损伤层...
- 欧欣陈阳黄凯赵晓蒙鄢有泉李忠旭黄浩
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- 可调控电磁波吸收的超材料晶体结构及其制备方法
- 本发明提供一种可调控电磁波吸收的超材料晶体结构及制备方法，制备包括：提供闪耀光栅衬底，表面形成有周期排布的锯齿状阵列结构，包括具有第一倾角的第一槽面及具有第二倾角的第二槽面；于闪耀光栅衬底上形成交替多层膜结构，包括若干个...
- 欧欣张师斌林家杰黄浩游天桂黄凯王曦
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- 一种超导转变边探测器的制备方法
- 本申请提供一种超导转变边探测器的制备方法，包括以下步骤：通过磁控溅射方法在衬底上制备铝(Al)薄膜；对Al薄膜进行光刻和湿法刻蚀处理；获取探测器薄膜和电极图形；对Al薄膜再次进行光刻处理，采用光刻胶覆盖电极图形区域；采用...
- 高波吕越黄浩游天桂欧欣王镇
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- 一种磁性掺杂超导薄膜及制备方法和超导转变边沿探测器
- 本发明公开了一种磁性掺杂超导薄膜及制备方法和超导转变边沿探测器，涉及低温超导探测器技术领域。本发明通过在衬底上形成预设的宿主薄膜，并在宿主薄膜的深度方向进行非均匀注入磁性离子，在宿主薄膜的深度方向上形成共存的磁性掺杂区和...
- 高波陈建国吕越黄浩游天桂欧欣王镇
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- 面向GSM-R/LTE-R双模基站功放的通用双带Volterra预失真系统模型及算法被引量：3
- 2015年
- 在GSM-R/LTE-R双模基站中,双带射频功放的非线性使得发射信号中2个频带的信号在时域产生混叠,将有可能威胁通信基站的安全。因此,基于通用通带Volterra非线性系统模型,理论推导得到通用双带Volterra预失真系统模型,对其分别进行简化得到双带记忆多项式模型和双带无记忆多项式模型;同时给出双带Volterra预失真系统模型的参数估计算法。以GSM-R信号(带宽200kHz)和LTE信号(带宽5MHz)作为双带的基带输入信号,信号的长度均为2×104个样本,用于预失真参数估计的样本长度为2 000个,分别采用3种模型进行预失真仿真试验。实验结果表明:双带Volterra预失真系统模型不但具有较好的通用性,而且其预失真效果最优,带外频谱抑制达到约20dB,但实现也最难。因此,在实际功放预失真系统应用中,可根据应用场景的需求,选用预失真系统性能与实现复杂度平衡的模型。同时也验证了通用双带Volterra预失真系统模型及其参数估计算法对预失真系统具有重要的实用价值。
- 黄浩钱骅熊磊
- 一种基于离子注入的冷子管开关及其制备方法
- 本发明涉及一种基于离子注入的冷子管开关及其制备方法，冷子管开关包括门线和控制线，所述控制线与所述门线平行并叠加于所述门线上，所述门线的材料为通过离子注入方法得到的超导薄膜。本发明的基于离子注入的冷子管开关，采用离子注入方...
- 高波陈建国吕越黄浩欧欣王镇
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- 半导体陷光结构及其制备方法
- 本发明提供一种陷光结构的制备方法及半导体陷光结构，制备包括：提供一衬底，至少包括第一化学元素及第二化学元素，第一化学元素具有第一饱和蒸气压，第二化学元素具有第二饱和蒸气压，第一饱和蒸气压小于第二饱和蒸气压；对衬底进行离子...
- 欧欣黄浩张师斌游天桂
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- 多层膜光栅衍射效率的同步辐射研究被引量：8
- 2021年
- 多层膜光栅具有优异的衍射性能,能够成为同步辐射软X射线波段重要的色散元件。为了测量多层膜光栅的衍射效率,在上海同步辐射光源上设计并搭建了小型化的衍射效率检测装置,实现在现有谱学显微实验腔体中对光栅衍射效率的快速检测。在480~730 eV的光子能量范围内,测得多层膜光栅的0级衍射效率峰值为1.11%,+1级次的衍射效率峰值为0.52%,并分析影响多层膜光栅衍射效率的因素。使用微分理论数值计算多层膜光栅的衍射效率,验证了实验方案的正确性。衍射效率的测量和模拟计算为多层膜光栅的制备和应用提供了重要依据。
- 骆钧尧郭智黄浩黄浩张祥志
- 关键词：衍射X射线光学衍射效率
