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陆锋

作品数:22 被引量:35H指数:4
供职机构:江南大学物联网工程学院更多>>
发文基金:国家自然科学基金江苏省自然科学基金广东省教育部产学研结合项目更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术一般工业技术机械工程更多>>

文献类型

  • 22篇中文期刊文章

领域

  • 17篇电子电信
  • 3篇自动化与计算...
  • 1篇机械工程
  • 1篇电气工程
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 5篇电路
  • 3篇虚拟仪器
  • 3篇FPGA
  • 3篇测试技术
  • 2篇带隙基准
  • 2篇电路设计
  • 2篇抑制比
  • 2篇互连
  • 2篇互连测试
  • 2篇基于虚拟仪器
  • 2篇SIP
  • 2篇LABVIE...
  • 2篇MCU
  • 2篇测试系统
  • 2篇MULTI-...
  • 1篇带隙基准电路
  • 1篇带隙基准源
  • 1篇低功耗
  • 1篇低温度系数
  • 1篇低温漂

机构

  • 19篇江南大学
  • 15篇中国电子科技...
  • 4篇中国电子科技...
  • 2篇中国电子科技...

作者

  • 22篇陆锋
  • 5篇陆锋
  • 4篇张凯虹
  • 3篇芦俊
  • 2篇万书芹
  • 2篇王建超
  • 2篇苏洋
  • 2篇王青艳
  • 2篇曹俊
  • 2篇陈真
  • 1篇于宗光
  • 1篇潘庭龙
  • 1篇解维坤
  • 1篇周亚丽
  • 1篇邢万
  • 1篇胡焰胜
  • 1篇王多
  • 1篇贺磊
  • 1篇张荣
  • 1篇杨煜

传媒

  • 8篇电子与封装
  • 3篇微电子学
  • 2篇测试技术学报
  • 1篇电子测试
  • 1篇半导体技术
  • 1篇太阳能学报
  • 1篇电视技术
  • 1篇自动化与仪器...
  • 1篇微计算机信息
  • 1篇光通信技术
  • 1篇计算机测量与...
  • 1篇中国集成电路

年份

  • 2篇2024
  • 2篇2022
  • 1篇2020
  • 2篇2019
  • 2篇2018
  • 1篇2017
  • 2篇2015
  • 3篇2014
  • 1篇2013
  • 1篇2011
  • 4篇2009
  • 1篇2004
22 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
基于V93000的现场可编程门阵列测试时间优化方法被引量:3
2019年
对于现场可编程门阵列FPGA,测试配置时间远大于加测试向量的时间,为实现FPGA快速配置测试,本文提出了一种FPGA测试时间优化方法:采用Advantest公司V93000自动测试设备,通过在一个周期内加载4行配置向量对电路配置比特流的测试时间进行优化(即4X配置方式),并结合FPGA多帧写位流压缩方法对电路测试配置的编程加载时间进行优化;以Xilinx公司Virtex-7系列FPGA-XC7VX485T为例进行了测试验证,测试数据表明:采用V93000SoC测试系统的4X配置方式,FPGA的单次配置时间减少了74.1%;为了满足量产测试对于测试时间的要求,进一步提出V93000的4X配置方式与FPGA的位流压缩相结合的方法,FPGA的单次配置时间由1.047s减少到47.834ms,测试时间压缩了95.5%.该方法有效减少了FPGA单次测试时间,提高了在系统配置速度.
肖艳梅陆锋陆锋
关键词:自动测试设备现场可编程门阵列
基于S3C6410的模块化传感网网关设计被引量:1
2014年
设计一种基于ARM11的无线传感器网络嵌入式网关。该网关在软、硬件系统的设计过程中采用了模块化、层次化的设计,同时还支持以太网、CDMA、WiFi、USB等多种接口及网络的接入机制,各通信机制均采用socket机制并利用多线程技术控制,提高了Internet与ZigBee网络之间数据的透明转换的稳定性和效率。
刘宁枞张荣陆锋
关键词:网关通信机制SOCKET多线程
超低温漂带隙基准电压源设计被引量:1
2017年
在对传统带隙基准电压源进行理论分析的基础上,结合当前IC设计中对基准电压源低温漂、高电源抑制比的要求,设计了一种超低温漂的带隙基准电压源电路。该电路带有启动电路和高阶温度补偿电路。仿真结果表明,在-55~125℃的温度范围内获得了1.65×10-6/℃的温漂系数,低频时的电源抑制比达到-62 d B。
陆锋葛兴杰
MCU芯片Multi-Sites测试中几个值得关注的问题
2014年
介绍了MCU芯片Multi-Sites测试方法,针对MCU芯片Multi-Sites测试的难点,阐述了在MCU芯片Multi-Sites测试过程中经常影响测试系统和测试效率的问题。主要提出了MCU芯片MultiSites测试过程中的直流参数测试、功能测试的影响因素和解决方案,并对MCU芯片Multi-Sites测试过程中经常遇到的干扰因素进行分析,尽可能保证MCU芯片Multi-Sites测试过程中获得的各项性能参数稳定可靠。
陈真陆锋张凯虹
关键词:MCU
一种用于锁相环的环形压控振荡器设计
2024年
本文基于SMIC 65nm标准CMOS工艺提出了一种用于锁相环的环形压控振荡器的电路设计。包括了环形振荡器和缓冲整形电路。该环形压控振荡器有四级延时单元,并且延时单元采用了Maneatis对称负载。该电路在Cadence Spectre进行了仿真。结果表明,在电源电压1.8V时,频率调整范围为0.277GHz~1.33GHz,具有良好的线性度。频偏为1MHz时的相位噪声为-92.46dBc/Hz@1MHz,有良好的噪声性能。缓冲整形电路将压控振荡器的输出波形转换为轨到轨电压,使占空比等于50%,并提高了驱动能力。振荡器的稳定频率分别为400/500MHz。
李娜陆锋王星张国贤
关键词:环形压控振荡器锁相环比较器
符合JESD204B协议的传输层电路设计被引量:4
2022年
为了匹配实际应用中链路工作模式,在深入理解JESD204B协议理论的基础上,设计了一种通用的传输层电路,采用三级映射结构实现发送端、接收端传输层的组帧、解帧功能,建立Verilog编译模拟器(VCS)验证平台进行功能验证。仿真结果表明:该电路能够按照设定的链路工作模式完成采样数据与帧格式数据间的转换,实现组帧与解帧功能;基于65 nm标准工艺库综合评估,电路单通道时钟最高频率为1.25 GHz,能够达到协议支持的最高传输速度12.5 Gb/s。
陈婷婷陆锋陆锋万书芹
关键词:传输层组帧
一种优化FPGA测试配置时间的方法被引量:1
2018年
随着现场可编程门阵列(FPGA)规模发展到千万门级以上,配置向量越来越大,超过95%的FPGA制造测试时间用于加载测试配置比特流。为实现FPGA的快速配置测试,提出了一种FPGA快速测试配置及实现的方法。采用V93000测试系统,通过在一个周期内加载4行配置向量对电路配置比特流的测试时间进行优化(即4X配置方式)。以Xilinx公司Virtex-7系列FPGA-XC7VX485T为例进行了测试验证。测试数据表明,与一般配置方法相比,4X配置方式下FPGA单次配置时间减少了74.1%,解决了FPGA测试中数据配置与测试时间的矛盾。
肖艳梅陆锋
关键词:ATEFPGA
一种高效率MCU芯片Multi-Sites测试技术被引量:2
2014年
介绍了使用Multi-Sites工程测试技术提高MCU芯片测试效率的方案。针对MCU芯片Multi-Sites测试难点,阐述了在MCU芯片Multi-Sites测试中电性能测试、功能测试的影响因素和解决方案,并对MCU芯片Multi-Sites测试过程中经常遇到的干扰因素进行分析,保证MCU芯片Multi-Sites测试获得稳定可靠的性能参数,有效提高测试效率。
陈真陆锋张凯虹
关键词:MCU
基于虚拟仪器数控四声道音频处理器测试系统被引量:1
2009年
文章介绍了基于虚拟仪器技术的数控四声道音频处理器自动化测试系统。音频处理器电路是电子消费产品中常用的电路,以PC机、NI公司的动态信号采集卡PCI-4474、高速信号输出卡PCI-6371、分选机JS-200为硬件基础,以图形化编程语言LabVIEW8.2为软件开发环境,开发音频处理器的自动化测试系统,实现音频信号的发生、采集、处理与分析等功能,有效地降低了测试成本及提高了测试灵活性。
芦俊王青艳曹俊陆锋
关键词:虚拟仪器音频处理测试系统
0.25 μm CMOS新型过温保护电路的设计被引量:6
2018年
采用CSMC 0.25μm工艺,设计了一种新型结构的过温保护电路,该电路利用正温系数电流电路和共源共栅电流镜产生一个高灵敏度的电压信号,通过CMOS施密特触发器产生控制信号控制芯片的通断,起到保护电路的作用。通过Spectre软件仿真验证,结果显示,在各个工艺角及电源电压波动的情况下,电路均能在芯片温度上升到165℃时关断,在芯片温度降到144℃时开启,迟滞值为21℃。
葛兴杰陆锋
关键词:过温保护新型结构
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