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文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 5篇电子电信

主题

  • 2篇电子技术
  • 2篇无铅
  • 2篇焊点
  • 1篇电子组装
  • 1篇气密封装
  • 1篇热疲劳
  • 1篇微机电系统
  • 1篇绿色制造
  • 1篇结构参数
  • 1篇结构优化
  • 1篇可靠性
  • 1篇机电系统
  • 1篇焊点可靠性
  • 1篇封装
  • 1篇封装技术
  • 1篇PBGA
  • 1篇ROHS
  • 1篇电系统

机构

  • 5篇桂林电子科技...

作者

  • 5篇宁叶香
  • 4篇潘开林
  • 2篇颜毅林
  • 2篇李鹏
  • 2篇李逆
  • 1篇周斌

传媒

  • 2篇电子元件与材...
  • 1篇电子工业专用...
  • 1篇微细加工技术

年份

  • 1篇2009
  • 2篇2008
  • 1篇2007
  • 1篇2006
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
RoHS符合性自我声明与测试策略被引量:2
2006年
概述了当前绿色电子制造法规现状,其中重点概括了RoHS指令的核心内容,阐述了符合欧盟RoHS指令的可能方法与途径,重点论述JIG与IPC材料声明标准及其应用以及IEC的RoHS符合性测试策略、流程与方法。
潘开林颜毅林周斌宁叶香
关键词:电子技术ROHS绿色制造
电子组装中焊点的失效分析被引量:3
2007年
焊点的失效分析是电子产品质量和可靠性保证体系的重要组成部分。本文首先概述了焊点的失效机理,主要包括热致失效、机械失效、电化学失效。在此基础之上,综述了焊点失效分析的基本流程与各类失效分析方法,并对无铅条件下该领域的研究作了简要评述。
宁叶香潘开林李逆
关键词:电子组装焊点
微机电系统封装技术被引量:4
2008年
首先提出了MEMS封装技术的一些基本要求,包括低应力、高真空、高气密性、高隔离度等,随后简要介绍了MEMS封装技术的分类。在此基础上,综述了三个微机电系统封装的关键技术:微盖封装、圆片级芯片尺寸封装和近气密封装,并介绍了其封装结构和工艺流程。
潘开林李鹏宁叶香颜毅林
无铅过渡时期混合焊点可靠性研究进展被引量:6
2008年
在电子产品向无铅化过渡时期,存在前向兼容和后向兼容混合焊点的可靠性问题,对相关的理论和实验研究进行了综述。重点介绍了后向兼容组装中再流温度曲线的设置、焊点合金成分的计算及液相线温度的估算。简要介绍了前向兼容焊点的可靠性,认为一般情况下其可靠性可被接受。
宁叶香潘开林李逆李鹏
关键词:电子技术可靠性
无铅过渡时期混合组装PBGA焊点可靠性及封装体结构参数优化研究
为了应对欧盟的《关于在电子电气设备中限制使用某些有害物质的指令》/(RoHS指令/)和其它国家的无铅法规,电子制造业正进入一个无铅化的转移过程。无铅转移是一项系统工程,无论是从技术上还是我国目前的电子制造技术现状来讲,无...
宁叶香
关键词:热疲劳结构优化
文献传递
共1页<1>
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