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王浩

作品数:7 被引量:14H指数:2
供职机构:信息产业部电子第五研究所更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术经济管理理学更多>>

文献类型

  • 6篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 4篇电子电信
  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇经济管理
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 2篇电路
  • 2篇电子元
  • 2篇电子元器件
  • 2篇预测与健康管...
  • 2篇元器件
  • 2篇片上系统
  • 2篇可靠性
  • 2篇故障预测
  • 2篇故障预测与健...
  • 1篇电路设计
  • 1篇电迁移
  • 1篇虚拟化
  • 1篇预警
  • 1篇指标体系
  • 1篇质量信息
  • 1篇数据管理
  • 1篇数据资源
  • 1篇数据资源建设
  • 1篇全寿命周期
  • 1篇资源建设

机构

  • 6篇信息产业部电...
  • 3篇广东工业大学
  • 2篇电子元器件可...
  • 1篇工业和信息化...
  • 1篇中国人民解放...

作者

  • 7篇王浩
  • 4篇于迪
  • 4篇杨云
  • 2篇罗宏伟
  • 2篇陈媛
  • 1篇聂国健
  • 1篇任艳
  • 1篇郑丽香
  • 1篇周军连
  • 1篇陈义强

传媒

  • 4篇电子产品可靠...
  • 2篇中国管理信息...

年份

  • 2篇2020
  • 2篇2019
  • 1篇2012
  • 2篇2011
7 条 记 录,以下是 1-7
排序方式:
半导体级别故障预测与健康管理被引量:3
2011年
随着集成电路特征尺寸按比例缩小,其可靠性问题越来越突出。为了避免因集成电路失效而发生灾难性后果,有必要对集成电路进行故障预测与健康管理。首先,介绍了故障预测与健康管理技术的发展概况;然后,阐述了实施半导体级别故障预测与健康管理的两个主要方法:预兆单元法和失效先兆监测推理法,并根据相关案例进行了分析;最后,指出了该技术面临的挑战。
王浩罗宏伟陈媛
关键词:故障预测与健康管理半导体产品
基于预兆单元法的集成电路故障预测与健康管理
故障预测与健康管理(PHM)技术已经广泛应用于飞机、舰艇和车辆等系统设计和使用中。随着微电子技术的迅速发展,绝大多数系统中的控制功能都使用集成电路来完成,因而随之展开了有关集成电路的PHM。实施集成电路PHM最简单常用的...
王浩罗宏伟陈义强
关键词:集成电路故障预测健康管理
一种片上系统片外互连可靠性仿真技术研究被引量:2
2020年
结合国内SoC虚拟化验证体系的现状,梳理总结出了SoC片外互连可靠性仿真流程。并选取某型SoC开展片外互连可靠性仿真分析。通过开展热学仿真、振动仿真和寿命仿真等工作,最终得出了该型SoC的可靠性仿真结果,结果分析表明,该仿真方法满足实际的应用需求。
李欣荣雷庭于迪杨云王浩刘瑜珂
关键词:片上系统仿真
片上系统可靠性的虚拟化验证现状研究被引量:2
2019年
结合国内外片上系统可靠性的虚拟化验证现状,总结出了国内在该领域存在的主要问题和差距,并提出了相关的改进建议;分析梳理出了国外常见的虚拟化验证架构及思路,可为开展片上系统可靠性虚拟化验证工作的相关科研人员提供技术参考。
芈小龙李欣荣于迪徐洁芬杨云王浩雷庭
关键词:片上系统可靠性
关于电子元器件质量数据资源建设思路的探讨被引量:2
2020年
针对当前国内电子元器件质量数据资源建设中存在的数据分散、数据应用欠缺等问题,以电子元器件"研、用、管"各方的实际需求为基础,从数据资源体系构建、数据采集与规范化、数据管理与应用三方面入手,对电子元器件全寿命周期质量数据资源的建设思路进行了探讨,为行业质量监管与提升、数据共享与交流、数据应用与服务的实现提供了理论支撑。
王浩黄志华聂国健郑丽香杨云于迪李欣荣
关键词:电子元器件数据资源建设
电子元器件全寿命周期质量信息指标体系构建被引量:6
2019年
作为装备的基础组成单元,电子元器件全寿命周期质量数据对于支撑行业决策及装备器件选型、确定产品缺陷及薄弱环节、提升产品质量等具有重要意义,是推动元器件行业高速健康发展、国产电子元器件在装备中应用的依据。通过基于元器件全寿命周期主要业务流程的质量信息需求分析、整理,探索建立了元器件全寿命周期质量信息指标体系,对信息进行统一规划,以支撑元器件质量数据管理及应用工作的顺利开展,从而促进装备质量跨越式提升、自主保障战略的快速推进。
杨云任艳于迪王浩李欣荣周军连
关键词:元器件全寿命周期质量信息指标体系
电迁移寿命预警电路设计
2012年
提出了一种电迁移寿命的实时预测方法,并在0.18μm CMOS混合信号工艺下完成了预警电路的设计。预警电路与主电路放置在同一芯片上,经历相同的制造工艺和环境参数,任何影响主电路可靠性的因素都将施加在该预警电路上,从而克服了离线测试的局限性,具有实时在线测试的优点。当预警电路中电迁移引起的金属膜电阻器的阻值超过预设的界限时,其输出电平就会发生翻转,发出顶警信号,主电路即将发生失效。
王浩罗宏伟陈义强陈媛
关键词:电迁移可靠性
共1页<1>
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