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柯君玉

作品数:2 被引量:1H指数:1
供职机构:武汉大学物理科学与技术学院更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇理学

主题

  • 2篇正电子
  • 1篇单晶
  • 1篇电子辐照
  • 1篇氧化锌
  • 1篇原生
  • 1篇正电子寿命
  • 1篇质子
  • 1篇质子辐照
  • 1篇寿命研究
  • 1篇ZNO单晶
  • 1篇GASB

机构

  • 2篇武汉大学
  • 1篇中国科学院

作者

  • 2篇戴益群
  • 2篇王柱
  • 2篇李辉
  • 2篇庞锦标
  • 2篇柯君玉
  • 1篇赵有文
  • 1篇汪兵

传媒

  • 2篇武汉大学学报...

年份

  • 1篇2008
  • 1篇2007
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
用正电子研究原生ZnO单晶中的缺陷
2008年
利用正电子寿命谱和多普勒展宽谱技术研究了原生ZnO的缺陷结构及其退火效应.经900℃退火之后,正电子寿命实验显示样品中的空位型缺陷基本被消除,其体寿命为180 ps.通过比较原生和退火样品的符合多普勒展宽谱的商谱曲线,两者有相似的峰型,结合寿命谱的相关数据表明原生ZnO中不存在H原子填充Zn空位.
王柱柯君玉李辉庞锦标戴益群赵有文
关键词:正电子氧化锌
重掺Te的GaSb中缺陷的正电子寿命研究被引量:1
2007年
用正电子寿命谱技术研究了重掺Te的GaSb原生样品、电子辐照样品和质子辐照样品.室温正电子寿命测量揭示出原生重掺Te的GaSb样品中存在VGa相关缺陷,其寿命大小约为298 ps.电子辐照会使该缺陷发生变化,导致平均寿命值减小,VGa相关缺陷从-3价变为-2价.质子辐照后,产生了寿命值较大的缺陷.在10-300K变温实验中,观测到3种样品都存在浅捕获缺陷,该浅捕获缺陷是GaSb反位缺陷.
李辉柯君玉庞锦标汪兵戴益群王柱
关键词:正电子寿命电子辐照质子辐照
共1页<1>
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