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杨雪莹

作品数:2 被引量:3H指数:2
供职机构:信息产业部电子第五研究所更多>>
相关领域:自动化与计算机技术电子电信化学工程更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇化学工程
  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇数据残留
  • 1篇待机
  • 1篇待机电流
  • 1篇载流子
  • 1篇载流子复合
  • 1篇随机存储器
  • 1篇热载流子
  • 1篇热载流子效应
  • 1篇温度
  • 1篇静态随机存储...
  • 1篇SRAM
  • 1篇存储器

机构

  • 2篇西安电子科技...
  • 2篇信息产业部电...

作者

  • 2篇贾新章
  • 2篇钟征宇
  • 2篇张小波
  • 2篇焦慧芳
  • 2篇杨雪莹

传媒

  • 1篇电路与系统学...
  • 1篇固体电子学研...

年份

  • 1篇2008
  • 1篇2006
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
SRAM数据残留现象的机理分析被引量:2
2008年
通过实验进行了SRAM数据残留机理的研究,建立了数据残留时间与温度的关系。确定了低温下非平衡载流子复合率及扩散速度的降低,是导致SRAM断电后数据残留的主要原因。同时进行了SRAM电参数与数据残留的相关性分析,排除了实验条件下热载流子效应对数据残留特性的影响。
焦慧芳张小波贾新章杨雪莹钟征宇
关键词:SRAM数据残留载流子复合热载流子效应
静态随机存储器数据残留特性研究被引量:2
2006年
通常在安全处理系统中,微处理都将密钥储存在静态随机存储器(SRAM)中,如果SRAM的数据在断电后确实完全丢失,那么采取这样的对策是非常安全的,但是SRAM在断电后存在数据残留的问题,是系统的一个重大安全隐患。针对信息系统的安全性,用实验方法进行了SRAM数据残留特性的研究,确定了多种SRAM数据残留的临界温度点,建立了数据残留时间与温度的相关关系,进行了数据残留特性与电参数的相关分析,提取出数据残留特性的特征电参数待机电流Iddsb,有助于进一步研究SRAM数据残留机理。
焦慧芳张小波贾新章杨雪莹钟征宇
关键词:静态随机存储器数据残留温度待机电流
共1页<1>
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