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文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 2篇专利

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇总线
  • 1篇电路
  • 1篇调速
  • 1篇映射
  • 1篇闪存
  • 1篇数据总线
  • 1篇锁存
  • 1篇锁存器
  • 1篇通讯板
  • 1篇主控
  • 1篇主控板
  • 1篇总线接口
  • 1篇线性校正
  • 1篇逻辑控制
  • 1篇逻辑控制电路
  • 1篇磨床
  • 1篇接触器
  • 1篇接口
  • 1篇晶体
  • 1篇矩阵结构

机构

  • 2篇中国电子科技...
  • 2篇中国电子科技...

作者

  • 4篇赵德权
  • 3篇李翠
  • 2篇于祥苓
  • 2篇苏琳
  • 1篇秦旭军
  • 1篇张振华
  • 1篇李亮
  • 1篇常宏伟
  • 1篇裴志强

传媒

  • 2篇微处理机

年份

  • 1篇2021
  • 1篇2017
  • 1篇2016
  • 1篇2015
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
晶体磨床操控器设计
2016年
随着材料科学研究的深入,对晶体的精细加工已成为一种趋势和要求。因此,在新一代磨床设计上,使用了双电机调速及联动的方式,改进了工艺,提高了生产效率。通过进一步优化操控器,对模拟通道进行了非线性校正,即通过分档处理,采取整档位校准和档内线性插入的方法,有效地改善了控制曲线,提高了控制精度。采用12位D/A转换器,既保证调节的细腻平滑,也为校准预留了足够的映射空间,最终使系统在数字层面上实现了纠偏。同时还引入一些辅助手段,增加存储器,以保存机器参数和建立输入数据索引表,设立定时器、报警器和密码锁,以方便生产过程管理。
赵德权李翠苏琳
关键词:晶体映射调速非线性校正
EEPROM耐久性试验方法及装置
本发明公开了一种EEPROM耐久性试验方法,包括:搭建矩阵结构;以“擦除-写入-读校验”为一轮测试周期对所有管位上的待测试EEPROM批量测试。针对现有EEPROM耐久性试验过程进行改进,省略“查空”步骤,引入并行操作,...
赵德权李翠于祥苓常宏伟戴俊夫裴志强
文献传递
基于SST39VF640x闪存的擦写器设计被引量:1
2017年
为了实现对SST39VF640x闪存4M空间的字编程,需要搭建一个16位的数据通道,使得C51微处理器每次对外存的访问,都能以双字节的方式进行,同时,须补齐系统指令寻址能力的短板,以满足对4M地址的I/O操作需求。实施中,充分利用C51外总线固有时序,并引入一定数量的寄存器,预设或锁存地址和数据,在读/写周期内,借助/RD、/WR和ALE的协调,完成总线信息的归并及拆分。通过总线接口的再构造,使本质上属于字节操作的微系统具有了字传输能力,并对擦/写流程进行简化,提出了具体实施方案,大幅缩短了试验周期,加快了试验进程。
赵德权苏琳李翠
关键词:闪存总线接口拆分
一种智能传输控制装置
本实用新型涉及传输控制领域,具体涉及一种智能传输控制装置。包括:功率部分和信号部分,其中,功率部分包括:顺序连接的断路器、滤波板、变频器,还包括通过保险板与滤波板连接的接触器;信号部分包括:通讯板以及与其连接的主控板;功...
张振华秦旭军于祥苓郞猛李亮孙骜赵德权
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