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高卫东
作品数:
4
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供职机构:
中国科学院光电技术研究所
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相关领域:
理学
文化科学
电子电信
机械工程
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合作作者
王艳茹
中国科学院光电技术研究所
李斌成
中国科学院光电技术研究所
刘卫静
中国科学院光电技术研究所
张殷华
中国科学院光电技术研究所
熊胜明
中国科学院光电技术研究所
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机构
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中国科学院
作者
4篇
高卫东
3篇
李斌成
3篇
王艳茹
1篇
熊胜明
1篇
张殷华
1篇
刘卫静
年份
1篇
2020
2篇
2012
1篇
2011
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一种光学元件吸收损耗测量的数据处理改进方法
一种光学元件吸收损耗测量的数据处理改进方法,连续激励光束经透镜聚焦后照射光学元件表面,光学元件因吸收入射激光束能量引起内部温度上升。通过建立一种更能真实反映光学元件所处物理实际的精确温度模型,基于此精确温度模型,通过对一...
李斌成
王艳茹
高卫东
一种光学元件吸收损耗测量的数据处理改进方法
一种光学元件吸收损耗测量的数据处理改进方法,连续激励光束经透镜聚焦后照射光学元件表面,光学元件因吸收入射激光束能量引起内部温度上升。通过建立一种更能真实反映光学元件所处物理实际的精确温度模型,基于此精确温度模型,通过对一...
李斌成
王艳茹
高卫东
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高灵敏激光光学元件吸收损耗测试技术及其应用
报告分析、比较了激光光学元件吸收损耗的两种测量技术:激光量热技术和光热测量技术。重点介绍了激光量热技术的基本原理和系统组成,分析了影响其测量精度的各种因素,并提出了一种考虑光学元件有限热导率、有限尺寸和所有界面热交换的精...
李斌成
刘卫静
王艳茹
高卫东
关键词:
吸收损耗
光热技术
一种基于椭偏仪的光学薄膜热膨胀系数测量装置及其测量方法
本发明公开了一种基于椭偏仪的光学薄膜热膨胀系数测量装置及其测量方法,该测量装置包括椭偏仪、样品夹具组件、红外加热灯、热电偶组件、计算机。本发明光学薄膜热膨胀系数测量装置利用椭偏仪对光学薄膜厚度的精确测量,测量光学薄膜加温...
田晓习
熊胜明
高卫东
张殷华
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