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文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇镀通孔
  • 2篇通孔
  • 2篇可靠性
  • 1篇电子技术
  • 1篇数对
  • 1篇温度
  • 1篇PCB
  • 1篇玻璃化温度

机构

  • 2篇北京航空航天...
  • 2篇华为技术有限...

作者

  • 2篇谢劲松
  • 2篇张源
  • 1篇孙博
  • 1篇张叔农
  • 1篇陈颖
  • 1篇霍玉杰

传媒

  • 1篇北京航空航天...
  • 1篇电子元件与材...

年份

  • 1篇2007
  • 1篇2006
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
PCB镀通孔疲劳寿命对设计参数的灵敏度分析被引量:2
2006年
在PCB镀通孔疲劳寿命评估IPC模型的改进模型基础上,分析了镀通孔疲劳寿命对基板厚度与孔径之比(即厚径比l/r0)、基板厚度与镀层厚度之比(l/t)以及基板作用半径与孔半径之比(R/r0)的灵敏度。结果表明,镀通孔疲劳寿命对(l/r0)的灵敏度随(l/t)增大而减小;对(l/t)的灵敏度随(l/r0)增大而减小;而对(R/r0)的灵敏度则随(l/r0)增大而增大、随(l/t)增大而减小。最后,利用IPC的试验研究结果数据进行了验证。
孙博张叔农谢劲松张源
关键词:电子技术镀通孔可靠性PCB
印刷线路板设计参数对镀通孔可靠性的影响被引量:3
2007年
基于镀通孔(PTH,Plated Through-Hole)应力分布模型,定量地研究了PTH线路板厚度与PTH直径之比(高径比)、PTH半径与镀层厚度之比、线路板有效作用半径与PTH半径之比等几何设计参数以及线路板玻璃化温度对PTH镀层应变及寿命的影响.通过引入等效温度载荷,给出了不同玻璃化温度下的应力分布模型.研究表明,在屈服温度载荷附近时,PTH应变和寿命对几何尺寸非常敏感.在固定线路板有效作用半径与PTH半径之比后,PTH高径比影响较为明显.对于一定厚度的线路板,PTH半径越小,镀层最大应变越大,寿命越低.在玻璃化温度以上,应变急剧增加.研究还表明应变集中系数并非固定不变,而是在弹性和塑性范围内有所变化.
陈颖霍玉杰谢劲松张源
关键词:镀通孔玻璃化温度可靠性
共1页<1>
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