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龚楠

作品数:2 被引量:1H指数:1
供职机构:长春理工大学理学院更多>>
发文基金:吉林省环保局科技项目吉林省教育厅科技计划项目吉林省科技发展计划基金更多>>
相关领域:理学更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇理学

主题

  • 2篇禁带
  • 2篇禁带宽度
  • 2篇溅射
  • 2篇磁控
  • 2篇磁控溅射
  • 1篇射频磁控
  • 1篇射频磁控溅射
  • 1篇溅射制备
  • 1篇光学
  • 1篇TI
  • 1篇AL
  • 1篇ALN薄膜
  • 1篇场发射
  • 1篇磁控溅射制备
  • 1篇Z

机构

  • 2篇长春理工大学

作者

  • 2篇汪剑波
  • 2篇冯禹
  • 2篇龚楠
  • 1篇孙贯成
  • 1篇朱明海
  • 1篇于淼
  • 1篇陈广彬
  • 1篇连宇翔
  • 1篇吴成泽

传媒

  • 2篇长春理工大学...

年份

  • 1篇2017
  • 1篇2014
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
射频磁控溅射AlN薄膜的场发射性能研究
2017年
氮化铝(Al N)是一种宽禁带深紫外半导体材料,其良好的性能可作为紫外固态光源。采用射频磁控溅射法,在p型Si(100)衬底上制备了Al N薄膜。通过X射线衍射分析(XRD)、紫外-可见光光谱(UV-Vis)、场发射测试对制备的Al N薄膜进行了测试分析,针对薄膜生长特性对光吸收的影响及其场发射性能进行了研究。结果显示:在Si衬底上成功的制备了高度(002)取向的Al N薄膜,薄膜在230~250nm间有强紫外吸收,阈值电场为6.39V/μm。场发射测试结果表明,磁控溅射法制备的Al N薄膜具备良好的场发射性。
吴成泽汪剑波龚楠冯禹连宇翔孙贯成于淼
关键词:磁控溅射AL禁带宽度
磁控溅射制备Ti-Zn-O复合薄膜及其光学性质研究被引量:1
2014年
TiO2是作为一种宽禁带半导体材料可作为紫外器件,但因其间接带隙结构、禁带宽度仅为3.0eV等特点,严重影响其应用范围。本文利用共溅射技术,通过Zn掺杂,在K9玻璃基底上制备了Ti-Zn-O复合薄膜,并研究了Zn溅射功率对其结构及光学性质的影响。结果显示:所制备的薄膜为ZnTiO3和不饱和TiO2的复合结构,随着Zn粒子的溅射能量增加,晶粒尺寸和表面粗糙度增加,并可将薄膜本征吸收边蓝移至3.61eV。
朱明海陈广彬冯禹龚楠汪剑波
关键词:磁控溅射禁带宽度
共1页<1>
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