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陈飞珺

作品数:4 被引量:9H指数:2
供职机构:复旦大学材料科学系更多>>
相关领域:化学工程电气工程更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 2篇会议论文

领域

  • 3篇化学工程
  • 1篇电气工程

主题

  • 2篇电镀
  • 2篇电镀镍
  • 2篇镀镍
  • 2篇金线
  • 2篇键合
  • 2篇
  • 1篇电站
  • 1篇凝汽器
  • 1篇钛管
  • 1篇浸润性
  • 1篇晶粒
  • 1篇晶粒大小
  • 1篇化学镍
  • 1篇化学镍金
  • 1篇减薄
  • 1篇核电
  • 1篇核电站
  • 1篇壁厚
  • 1篇ENIG

机构

  • 4篇复旦大学
  • 3篇深圳市兴森快...

作者

  • 4篇陈飞珺
  • 3篇杨振国
  • 2篇严石
  • 1篇姚骋

传媒

  • 2篇复旦学报(自...

年份

  • 1篇2013
  • 2篇2012
  • 1篇2011
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
化学镍金(ENIG)表面浸润性不良的失效分析被引量:2
2012年
化学镍金,也称化镍沉金(ENIG),作为最终表面处理工艺的一种,以其低廉的价格和兼容于高密度封装的特性而被广泛采用,但其一直被可靠性问题所困扰着.针对ENIG诸多可靠性问题中的一种,即上锡过程中焊料在沉金表面浸润性不佳,开展了分析研究.研究表明,镀金层质量不佳,晶粒粗大,晶界开裂是导致上锡过程中焊料浸润性不良的主要原因.焊料选择的不当是导致该失效的次要因素.
严石陈飞珺杨振国李志东陈蓓
关键词:浸润性晶粒大小
电镀镍金板无法键合金线的失效分析被引量:8
2012年
印制电路板(Printed Circuit Board,PCB)广泛用于各类电子产品,以实现元器件间的电气导通和信号传输.引线键合起着封装内部芯片和外部管脚以及芯片间的电气连接作用,且工艺简单成本较低,广为采用.现介绍了1批电镀镍金PCB板表面无法键合金线的失效概况,然后通过三维体式显微镜、扫描电镜(SEM)、能谱分析(EDS)等宏微观测试方法和表征手段,对失效样品进行了系统分析,发现金线键合不上是由镀金层太薄且硬脆引起,对预防相应失效提出了解决的建议.
陈飞珺严石杨振国李志东陈蓓
关键词:键合金线
核电站用凝汽器传热钛管壁厚异常减薄原因分析
我国沿海某核电站凝汽器用部分传热钛管发生了管壁异常减薄,综合运用多种表征分析方法,对其中的一些典型缺陷管进行了失效分析。结果表明:大多数管壁的异常减薄是由支撑板镗孔的加工缺陷、碳钢支撑板腐蚀物流挂沉积及停役检修时引入的异...
陈飞珺姚骋杨振国
关键词:钛管凝汽器核电站
文献传递
电镀镍金板无法键合金线的失效分析
印制电路板(PCB,Printed Circuit Board)广泛用于各类电子产品,以实现元器件间的电气导通和信号传输。引线键合起着封装内部芯片和外部管脚以及芯片间的电气连接作用,且工艺简单成本较低,适用面广,因此广为...
陈飞珺严石杨振国李志东陈蓓
关键词:键合金线
文献传递
共1页<1>
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