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刘义凯

作品数：3 被引量：7H指数：2
供职机构：中国电子科技集团公司第四十七研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 2篇版图
  • 2篇版图设计
  • 1篇单粒子
  • 1篇单粒子翻转
  • 1篇电路
  • 1篇亚微米
  • 1篇冗余
  • 1篇深亚微米
  • 1篇时间冗余
  • 1篇天线效应
  • 1篇总线
  • 1篇总线接口
  • 1篇总线接口电路
  • 1篇微米
  • 1篇接口
  • 1篇接口电路
  • 1篇集成电路
  • 1篇加固方法

机构

  • 3篇中国电子科技...

作者

  • 3篇刘义凯
  • 2篇杨菊瑾
  • 1篇刘丽娜

传媒

  • 3篇微处理机

年份

  • 1篇2013
  • 1篇2011
  • 1篇2010
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
集成电路中的天线效应被引量：2
2011年
天线效应会在MOS集成电路制造中引起良率和可靠性的问题,当芯片尺寸在深亚微米以下的工艺中更容易产生。介绍了集成电路中天线效应产生的原理,以及在版图设计中为避免天线效应所常用的几种方法。
刘义凯刘丽娜
关键词：天线效应版图设计深亚微米
429协议总线接口电路的研制
2010年
介绍了关于429协议总线接口电路的工作原理及其设计方法。ARINC 429总线协议是电子系统中重要的通信协议,是设备各系统间或系统与设备间数字信息传输的主要路径。协议采用带有奇偶校验的32位信息字格式及三态归零码调制方式。
杨菊瑾刘义凯
关键词：总线版图设计
抗单粒子翻转的加固方法被引量：5
2013年
集成电路受空间粒子辐射容易产生软故障。通过三模冗余、时间冗余和错误检测与纠正等电路结构设计加固方法可对其进行改善,有效增强其抗单粒子翻转的性能,有效防止因辐射产生的软故障。
杨菊瑾刘义凯
关键词：单粒子翻转时间冗余
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共1页<1>
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