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杨菊瑾

作品数:4 被引量:8H指数:2
供职机构:中国电子科技集团公司第四十七研究所更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 4篇电子电信

主题

  • 2篇电路
  • 2篇冗余
  • 2篇集成电路
  • 1篇单粒子
  • 1篇单粒子翻转
  • 1篇电路工艺
  • 1篇电路设计
  • 1篇多项式
  • 1篇循环冗余校验
  • 1篇异或
  • 1篇冗余校验
  • 1篇时间冗余
  • 1篇总线
  • 1篇总线接口
  • 1篇总线接口电路
  • 1篇接口
  • 1篇接口电路
  • 1篇晶闸管
  • 1篇静电放电
  • 1篇抗静电

机构

  • 4篇中国电子科技...

作者

  • 4篇杨菊瑾
  • 2篇刘义凯
  • 1篇杨东
  • 1篇李倩

传媒

  • 4篇微处理机

年份

  • 1篇2017
  • 1篇2013
  • 2篇2010
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
429协议总线接口电路的研制
2010年
介绍了关于429协议总线接口电路的工作原理及其设计方法。ARINC 429总线协议是电子系统中重要的通信协议,是设备各系统间或系统与设备间数字信息传输的主要路径。协议采用带有奇偶校验的32位信息字格式及三态归零码调制方式。
杨菊瑾刘义凯
关键词:总线版图设计
抗单粒子翻转的加固方法被引量:5
2013年
集成电路受空间粒子辐射容易产生软故障。通过三模冗余、时间冗余和错误检测与纠正等电路结构设计加固方法可对其进行改善,有效增强其抗单粒子翻转的性能,有效防止因辐射产生的软故障。
杨菊瑾刘义凯
关键词:单粒子翻转时间冗余
基于抗静电设计的集成电路可靠性技术研究被引量:2
2017年
集成电路工艺发展到深亚微米阶段,器件的物理尺寸日益减小,芯片的可靠性设计面临的问题越来越复杂。为缩短研制周期,节约成本,应在电路设计时就考虑可靠性问题。ESD是CMOS电路中最为常见的失效机理之一,严重的会造成电路自我烧毁。概述了集成电路的可靠性设计,介绍了CMOS集成电路ESD保护的必要性,分析了ESD的失效机理,研究了在CMOS电路中几类常见的ESD保护方法,分析了各种保护方式的原理和特点。
杨菊瑾
关键词:静电放电ESD保护电路集成电路工艺晶闸管
循环冗余校验在集成电路设计中的具体实现被引量:1
2010年
循环冗余校验,即CRC(Cyclic Redundancy Check)。循环冗余校验的编码方法简单,检错能力强,误判概率低,是数据传输中常用的重要校验方法之一。着重介绍了循环冗余校验的基本原理,并举例说明了循环冗余校验在集成电路设计中的具体实现。
杨东杨菊瑾李倩
关键词:多项式异或
共1页<1>
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