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崔鹏

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：复旦大学信息科学与工程学院专用集成电路与系统国家重点实验室更多>>
发文基金：上海市“科技创新行动计划”国家自然科学基金国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇单粒子
  • 1篇单粒子翻转
  • 1篇循环冗余校验
  • 1篇硬核
  • 1篇阵列
  • 1篇冗余
  • 1篇冗余校验
  • 1篇片上可编程系...
  • 1篇现场可编程
  • 1篇现场可编程门...
  • 1篇门阵列
  • 1篇可编程门阵列
  • 1篇可编程系统
  • 1篇编程
  • 1篇编程系统
  • 1篇SEU

机构

  • 1篇复旦大学

作者

  • 1篇陈利光
  • 1篇来金梅
  • 1篇周灏
  • 1篇崔鹏

传媒

  • 1篇计算机工程

年份

  • 1篇2011
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
一种SEU硬核检测电路的设计与实现被引量：1
2011年
现有的现场可编程门阵列(FPGA)芯片在进行单粒子翻转(SEU)检错时,只能针对FPGA配置单元进行周期性重复擦写而不能连续检错纠错。为此,设计一种能连续检测SEU错误并实时输出检错信息的硬核检测电路。该设计改进传统FPGA芯片的数据帧存储结构,能对芯片进行连续回读循环冗余校验(CRC)。在FDP3P7芯片上的流片实现结果表明,该电路能在50 MHz工作频率下连续对芯片进行回读CRC校验,并正确输出SEU帧检错信息。
崔鹏陈利光来金梅周灏鲍丽春
关键词：现场可编程门阵列单粒子翻转循环冗余校验片上可编程系统
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