张晓倩
- 作品数：3 被引量：1H指数：1
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- 气动退化复原图像多尺度局部去振铃算法
- 2014年
- 为了抑制气动退化复原图像中的振铃效应,提出了一种气动退化复原图像多尺度局部去振铃算法。首先,对复原后图像进行非下采样轮廓波变换(Nonsubsampled Contourlet Transform,NSCT)分解;然后进行多尺度边缘检测、融合和二次跟踪细化实现图像主轮廓的提取;最后,对图像的主轮廓进行去振铃局部模糊滤波。仿真实验结果表明,在运算效率与其他算法相当的情况下,滤波后图像的边缘振铃去除效果更好,纹理细节恢复更加显著,基本满足了振铃去除、纹理细节保护以及实时性的要求。
- 张晓倩李俊山孙李辉
- 关键词：多尺度振铃效应
- 静电放电电磁脉冲对微电子器件的双重作用被引量：1
- 2011年
- 研究了低电压的静电放电(ESD)对微电子器件造成的潜在性失效,采用人体模型(HBM)对微波低噪声晶体管2SC3356施加不同电压的ESD应力.结果表明:高电压的ESD注入对2SC3356器件造成的损伤主要是不可恢复的损伤,而低电压的ESD注入对2SC3356器件造成的损伤是可恢复的损伤;ESD的注入对器件有双重作用:一方面ESD在器件中可引入潜在性损伤,另一方面ESD对器件有加固作用,并且注入ESD电压越高,这些作用越明显.
- 祁树锋张晓倩曾泰刘红兵杨洁
- 关键词：ESD微电子器件
- 2SC3356晶体管ESD潜在性失效判别的参数研究
- 2011年
- 针对2SC3356晶体管进行了ESD潜在性失效判别的参数研究,研究的参数包括结电容和噪声系数、结反向击穿电压和结反向漏电流,以及高温反偏的方法来检验器件是否受到潜在性损伤。提出了检验双极型硅器件受到ESD潜在性损伤的最有效方法,即精确测试器件的直流参数,特别是直流放大倍数hFE及反向漏电流ICEO,是检验双极型硅器件是否受到ESD潜在性损伤的最有效方法。
- 祁树锋曾泰张晓倩刘红兵杨洁
- 关键词：ESD微电子器件
