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罗乐

作品数:23 被引量:79H指数:5
供职机构:中国科学院上海冶金研究所上海微系统与信息技术研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划更多>>
相关领域:金属学及工艺一般工业技术电气工程电子电信更多>>

文献类型

  • 13篇期刊文章
  • 3篇会议论文

领域

  • 8篇金属学及工艺
  • 6篇电子电信
  • 4篇一般工业技术
  • 3篇电气工程

主题

  • 6篇超导
  • 4篇钎焊
  • 4篇SN
  • 3篇导体
  • 3篇焊点
  • 3篇焊料
  • 3篇封装
  • 3篇超导体
  • 2篇电子封装
  • 2篇时效
  • 2篇贴装
  • 2篇微结构
  • 2篇扩散
  • 2篇剪切强度
  • 2篇NI
  • 2篇YBA
  • 2篇YBCO
  • 2篇YSZ
  • 2篇表面贴装
  • 2篇超导化合物

机构

  • 16篇中国科学院上...
  • 1篇复旦大学
  • 1篇中国科学院
  • 1篇上海科学技术...

作者

  • 16篇罗乐
  • 5篇胡素辉
  • 3篇杜黎光
  • 3篇朱奇农
  • 3篇盛玫
  • 3篇肖克来提
  • 2篇肖克
  • 2篇王国忠
  • 2篇孙志国
  • 1篇唐志明
  • 1篇蔡一鸣
  • 1篇黄卫东
  • 1篇龚尚敏
  • 1篇袁美萍
  • 1篇龚云国
  • 1篇章岚
  • 1篇邱经武
  • 1篇叶常青
  • 1篇程兆年
  • 1篇叶润清

传媒

  • 4篇金属学报
  • 3篇功能材料与器...
  • 2篇第六届全国高...
  • 1篇科学通报
  • 1篇电子学报
  • 1篇材料研究学报
  • 1篇中国有色金属...
  • 1篇材料科学进展
  • 1篇自然科学进展...
  • 1篇’94秋季中...

年份

  • 4篇2001
  • 3篇2000
  • 2篇1999
  • 1篇1998
  • 1篇1996
  • 1篇1994
  • 1篇1992
  • 1篇1990
  • 2篇1986
23 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
Ag-Pd和Ni对无铅钎料焊点形状、微结构及剪切强度的影响被引量:3
2001年
研究了器件端头两种不同的金属化层(An-Pd和 Ni/An-Pd)对 Sn-Sb钎料表面贴装焊点的形状、微结构及剪切强度的影响,并与常用的 Sn-Pb-Ag钎料焊点进行了比较结果表明。 Sn-Sb/Ag-Pd焊点由于 Sn-Sb钎料与 Ag-Pd层在回流焊接过程中的剧烈反应导致钎料在器件端头区域集中而不在 Cu焊盘上充分铺展,焊点强度低,断裂发生在原 Ag-Pd/陶瓷界面;Sn-Sb/Ni/Ag-Pd焊点中 Ni有效地阻止了 Ag-Pd在钎料中的溶解,焊点形状理想,强度很高;而对于Sn-Ph-Ag饵料,器件金属化层对焊点形状和强度影响不大,剪切测试后,断裂发生在钎料内部.
肖克来提盛玫罗乐
关键词:表面贴装锡铅钎料钎焊微结构剪切强度
强磁场下高临界电流密度的YBa_2Cu_3O_(7-δ)熔融织构法块样的制备及缺陷分布
1990年
一、引言 高温氧化物超导体在强电领域应用的主要障碍为临界电流密度较低,这是由多晶材料晶粒间的弱连接所致。为改善弱连接,人们在减少和净化晶界,以及利用氧化物超导体层状导电特性而改变晶胞微观排列方面,做了大量努力。
罗乐魏旺水宫世明胡素辉张永红陈开远邱经武唐志明蔡一鸣崔长庚李山林
关键词:YBCO超导体
Ni-Cr衬底上MOCVD法制备YSZ过渡层的研究
1996年
用MOCVD方法在柔性金属衬底上沉积超导膜是潜在的实用高温超导成材方法。用适当方法原位快速地制备有择优取向的防扩散过渡层是其中的关键。本文报导用有机源Y(dpm)_3和Zr(dpm)_4,采用MOCVD方法在Ni基合金衬底上沉积了Y稳定的ZrO_2立方相过渡层,厚度约0.5μm。文中研究了氧分压和沉积温度对YSZ结晶和择优取向的影响。结果表明,在生长压力为130Pa时,氧分压低至20Pa,制备出(111)取向为主的YSZ多晶膜,氧分压为50~100Pa,则制备出(h00)择优取向为主的YSZ膜。衬底温度太低,将导致YSZ膜质量变差。
罗乐袁美萍叶常青钱长涛
关键词:MOCVD法超导膜YSZ过渡层YBCO
时效对无铅焊料Ni-P/Cu焊点的影响被引量:9
2001年
研究了150℃等温时效对62Sn36Pb2Ag/Ni-P/Cu及共晶SnAg/Ni-P/Cu表面贴装焊点微结构及剪切强度的影响.结果表明,在钎料与Ni-P间的界面存在Ni3Sn4金属间化合物层,其厚度随时效时间增加,Ni-P层的厚度减小;时效后,SnPbAg、SnAg焊点的剪切强度下降.对于SnAg焊点,时效250h后其剪切强度剧烈下降,断裂发生在Ni-P/Cu界面上,在长时间时效后焊点一侧的Ni-P层中P的含量较高可能是Ni-P/Cu结合强度变差的主要原因.SnPbAg焊点保持着较高的剪切强度.
肖克来提杜黎光盛玫罗乐
关键词:钎焊时效无铅焊料钎焊
超导材料的几何构形对Nb[*v3*]Sn扩散生长的影响
体扩散模型,假定Sn在CuSn母体中的扩散是Nb[*v3*]Sn生长的控制因素,考虑了“青铜法”和“Nb管富Sn法”这两种典型的成材方法的几何构形所形成的边界条件,在一级近似下解出了Nb[*v3*]Sn层厚度和热处理时间...
罗乐胡素辉
关键词:扩散超导化合物超导材料
Ni对Sn96.5Ag3.5/Cu之间扩散行为的阻挡作用被引量:8
2000年
研究了电镀Ni层和化学镀Ni P合金层对Sn Ag/Cu焊点扩散行为的影响 ,电子探针分析表明 :化学镀Ni P合金层能很好地阻止Sn Ag/Cu焊点在焊接过程中的Cu ,Sn互扩散和相互反应 ;而电镀Ni层则不能阻止Sn Ag/Cu焊点在焊接过程中的Cu,Sn互扩散和相互反应 ,界面反应产物仍以Cu6 Sn5 为主。应用化学镀Ni P合金作为Sn Ag/Cu之间的扩散阻挡层可大大减少Sn/Cu金属间化合物的生成 。
朱奇农罗乐肖克杜黎光
关键词:扩散镍镀层金属间化合物钎焊
倒装芯片互连时SnAg/95Pb5Sn焊料间的互扩散行为及Ni阻挡层的作用
1999年
本文研究了共晶SnAg/95PbSn 扩散偶在250 ℃下的扩散行为。发现由于95Pb5Sn 中的Pb 向熔融共晶SnAg 焊料中扩散而部分生成三元共晶Pb - Sn- Ag 相,其熔点约为178℃。化学镀Ni 层可以有效地阻止共晶SnAg 和95Pb5Sn 间的互扩散,防止Pb- Sn- Ag 共晶相的生成,从而提高焊点的耐热温度。文中还研究了与共晶SnAg/Ni/95Pb5Sn 结构相关的相变及力学性能。
肖克罗乐
关键词:互扩散焊料钎焊
倒装焊中复合SnPb焊点形态模拟被引量:9
2000年
本文给出了倒装焊 (flip chip)焊点形态的能量控制方程 ,采用SurfaceEvolver软件模拟了倒装焊复合SnPb焊点 (高Pb焊料凸点 ,共晶SnPb焊料焊点 )的三维形态 .利用焊点形态模拟的数据 ,分析了芯片和基板之间SnPb焊点的高度与焊点设计和焊接工艺参数的关系 .研究表明 :共晶SnPb焊料量存在临界值 ,当共晶SnPb焊料量小于临界值时 ,焊点的高度等于芯片上高Pb焊料凸点的半径值 ;当共晶SnPb焊料量大于临界值时 ,焊点的高度随共晶SnPb焊料量的增加而增加 .另外 ,采用无量纲的形式给出了焊点高度与共晶焊料量、焊盘尺寸、芯片凸点的尺寸 ,芯片重量之间的关系模型 ,研究结果对倒装焊焊点形态的控制、工艺参数的优化和提高焊点可靠性具有指导意义 .
朱奇农王国忠罗乐
关键词:倒装焊焊点形态封装
Sn_(62)Pb_(36)Ag_2焊料的微结构粗化被引量:3
1999年
在焊料的浸镀及表面贴装过程中,发现Sn62Pb36Ag2 焊料的微结构粗化,并且可焊性很差。金相研究发现:Sn62Pb36Ag2 合金焊料在熔体状态保温较长时间以及冷却速率较慢,均会促进焊料的微结构粗化。其机理为焊料中生成较多的Ag3Sn 和Cu6Sn5 等金属间化合物,消耗了合金焊料中的部分锡,使焊料组成偏离共晶点,从而最终导致富铅相偏析。组成偏离及微结构粗化致使焊料在铜上的润湿性降低,并影响焊料的可焊性。
叶润清罗乐
关键词:微结构
复合SnPb焊点的形态与可靠性预测被引量:13
2000年
建立了复合焊点形态的能量控制方程,采用 Surface Evolver软件模拟了复合 SnPb焊点(高 Pb焊料凸点,共晶 SnPb焊料圆角)的形态利用复合 SnPb焊点形态的计算结果,采用统一型粘塑性 Anand本构方程描述复合焊点 Pb90Sn10和 Sn60Pb40的粘塑性力学行为,采用非线性有限元方法分析复合 SnPb焊点在热循环条件下的应力应变过程。基于 Coffin—Manson经验方程预测焊点的热循环寿命,考察焊点形态对焊点可靠性的影响,研究了复合
朱奇农王国忠程兆年罗乐
关键词:电子封装焊点有限元模拟可靠性
共2页<12>
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