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魏欢
作品数:
9
被引量:3
H指数:1
供职机构:
北京工业大学
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国家自然科学基金
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相关领域:
电子电信
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合作作者
陈建新
北京工业大学电子工程系
沈光地
北京工业大学电子工程系
邹德恕
北京工业大学电子工程系
徐晨
北京市光电子技术实验室北京10...
杜金玉
北京工业大学电子工程系
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异质结双极型晶体管
一种量子阱基区异质结双极型晶体管,属于高速微电子技术领域,其特征是,沿基区纵向生长一个或多个非掺杂量子阱层,使基区内的多数载流子主要处在量子阱中作横向输运,从而大大提高多数载流子的横向迁移率,并同时形成对少数载流子的纵向...
沈光地
邹德恕
陈建新
杜金玉
吴德馨
高国
徐晨
韩金茹
董欣
罗辑
魏欢
周静
孙泽长
袁颖
赵立新
文献传递
异质结双极型晶体管
一种量子阱基区异质结双极型晶体管,属于高速微电子技术领域,其特征是,沿基区纵向生长一个或多个非掺杂量子阱层,使基区内的多数载流子主要处在量子阱中作横向输运,从而大大提高多数载流子的横向迁移率,并同时形成对少数载流子的纵向...
沈光地
邹德恕
陈建新
杜金玉
吴德馨
高国
徐晨
韩金茹
董欣
罗辑
魏欢
周静
孙泽长
袁颖
赵立新
文献传递
SiGe/SiHBT异质界面与pn结界面的相对位移的影响
2000年
从模拟和实验两方面研究了SiGe/SiHBT发射结中pn结界面和SiGe/Si界面的相对位置对器件的电流增益和频率特性的影响 .发现两界面偏离时器件性能会变差 .尤其是当pn结位于SiGe/Si界面之前仅几十 就足以产生相当高的电子寄生势垒 ,严重恶化器件的性能 .据此分析了基区B杂质的偏析和外扩对器件的影响以及SiGe/Si隔离层的作用 .
徐晨
沈光地
邹德恕
陈建新
李建军
罗辑
魏欢
周静
董欣
关键词:
SIGE/SI异质结双极晶体管
低温生长SiO_2膜的性质及其在SiGe/Si HBT研制中的应用
1999年
用磁控溅射SiO2膜作为台面SiGe/SiHBT的表面保护纯化膜和光刻掩膜.测试分析了溅射工艺对SiO2膜的性质和SiGe/SiHBT性能的影响.研究发现,较高的衬底温度(200℃)有得于改善SiO2膜的质量.用溅射SiO2方法制备的HBT的电流增益明显高于用热分解正硅酸乙脂方法淀积SiO2制备的HBT.这说明溅射法避免了高温引起SiGe层应变驰豫所造成的HBT性能变差.
徐晨
邹德恕
陈建新
陈建新
高国
杜金玉
魏欢
高国
沈光地
关键词:
磁控溅射
SIGE/SI
HBT
二氧化硅膜
77K下电流增益为2.6万的SiGe/Si HBT
2001年
通过优化设计SiGe/Si HBT的纵向参数,找到一种低温工艺方法,研制出了在液氮温度下电流增益达到26000的高增益异质结晶体管。
邹德恕
陈建新
徐晨
魏欢
史辰
杜金玉
高国
邓军
沈光地
关键词:
HBT
电流增益
锗化硅
异质结晶体管
SiGe/Si HBT及其单片微波集成电路的研究
2000年
SiGe/SiHBT作为单片微波集成电路中的有源元件,在截止频率、增益、噪声等方面相对于GaAs器件有很大的优势。本文结合本单位在SiGe材料和器件、电路等方面做过的工作,对实现SiGe单片微波集成电路的一些理论和技术要点作了阐述。
魏欢
陈建新
邹德恕
徐晨
徐晨
韩金茹
杜金玉
周静
沈光地
关键词:
异质结双极晶体管
单片微波集成电路
锗化硅
SiGe/Si异质结构的x射线双晶衍射
被引量:1
2000年
通过x射线双晶衍射图形讨论了SiGe/SiHBT的电学特性与晶格结构的关系
邹德恕
徐晨
罗辑
魏欢
董欣
周静
杜金玉
高国
陈建新
沈光地
王玉田
关键词:
X射线
双晶衍射
硅
锗化硅
低温SiGe/Si HBT的研制及性能分析
被引量:1
2001年
用MBE(分子束外延 ,MolecularBeamEpitaxy)生长的材料研制了在低温工作的SiGe/SiHBT(异质结双极型晶体管 ,HeterojunctionBipolarTransistor) .其在液氮下的直流增益hfe(Ic/Ib)为 16 0 0 0 ,交流增益 β(ΔIc/ΔIb)为 2 6 0 0 0 ,分别比室温增益提高 5 1和 73倍 .测试了该HBT直流特性从室温到液氮范围内随温度的变化 ,并作了分析讨论 .
徐晨
沈光地
邹德恕
陈建新
邓军
魏欢
杜金玉
高国
关键词:
SIGE/SI
HBT
分子束外延
异质结双极晶体管
低温电子学
SiGe异质结双极晶体管及其集成电路的研究
在现今的社会中,无线移动通讯技术和设备正在飞速的发展。CDMA等 先进通讯方式的出现和日益普及需要大量的用于高频段的高性能集成电路产 品。利用SiGe材料制成的异质结双极晶体管...
魏欢
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