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刘彦松

作品数:6 被引量:79H指数:3
供职机构:中国科学院上海冶金研究所上海微系统与信息技术研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 2篇专利
  • 1篇会议论文

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 3篇氮化铝
  • 2篇氮化
  • 2篇淀积
  • 2篇压电薄膜
  • 2篇声速
  • 2篇脉冲激光
  • 2篇脉冲激光淀积
  • 2篇金刚石薄膜
  • 2篇激光淀积
  • 2篇过渡层
  • 2篇衬底
  • 2篇ZNO薄膜
  • 1篇氮化铝薄膜
  • 1篇压电
  • 1篇压电性
  • 1篇氧化锌
  • 1篇氧化锌薄膜
  • 1篇声表面波
  • 1篇声表面波器件
  • 1篇汽车

机构

  • 5篇中国科学院上...
  • 1篇中国科学院
  • 1篇上海科学院

作者

  • 6篇刘彦松
  • 6篇林成鲁
  • 6篇王连卫
  • 4篇黄继颇
  • 2篇刘尔凯
  • 2篇宋志棠
  • 1篇多新中
  • 1篇李伟群
  • 1篇李伟群

传媒

  • 1篇物理
  • 1篇功能材料
  • 1篇压电与声光
  • 1篇第十届全国电...

年份

  • 1篇2002
  • 1篇2001
  • 2篇2000
  • 2篇1999
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
SOI高温器件及其在汽车电子等领域中的应用被引量:3
1999年
石油钻井、航空航天、汽车等工业领域急需能在高温下工作的器件和电路.SOI(silicon-on-Insulator)技术在高温器件和电路方面有着广泛的应用前景.
刘彦松多新中黄继颇张苗王连卫林成鲁
关键词:SOI
利用ZnO缓冲层制备AlN薄膜被引量:30
2000年
采用脉冲激光淀积 (PL D)技术 ,利用 Zn O作为缓冲层 ,在 Si(10 0 )衬底上生长出 Al N薄膜。X-射线衍射图谱表明 ,该 Al N薄膜具有 c轴取向特性。X-光电子能谱测试表明 ,要获得接近理想化学配比的 Al N薄膜 ,需要高真空淀积气氛或合适的 N2 气氛 ;同时还表明 ,Al N薄膜表面容易形成保护性氧化层。剖面透射电子显微镜显微照相显示该 Al N/ Zn O/ Si(10 0 )多层结构清晰可辨 ,层与层之间的界面非常平整。原子力显微镜分析表明 ,采用 Zn O缓冲层可改善 Al N薄膜的表面粗糙度 (RMS=1nm)
刘彦松王连卫黄继颇林成鲁
关键词:缓冲层PLD氧化锌氮化铝薄膜
用PLD法制备声表面波器件用ZnO薄膜被引量:46
2001年
采用脉冲激光淀积 (PLD)法在单晶Si(10 0 )衬底上淀积了ZnO薄膜。XRD、TEM和AFM分析表明 ,淀积的ZnO薄膜具有良好的c轴取向性和表面平整度。通过改变淀积气氛或在纯氧中高温退火 ,ZnO薄膜的电阻率提高到 10 7Ω·cm。这些结果表明 ,用PLD法淀积的ZnO薄膜能够满足声表面波(SAW )器件的需要。
刘彦松王连卫李伟群黄继颇林成鲁
关键词:脉冲激光淀积压电性声表面波器件氧化锌薄膜
脉冲激光淀积高质量ZnO薄膜
脉冲激光淀积(PLD)在Si(100)衬底上制备了ZnO薄膜,XRD表明,在100℃~400℃温度范围内制备的ZnO薄膜是高度C轴择优取向的,TEM表明,ZnO薄膜的生长机制以柱状生长为主。
刘彦松黄继颇林成鲁王连卫李伟群
关键词:脉冲激光淀积
一种在高声速材料衬底上生长氮化铝压电薄膜的方法
本发明涉及一种在高声速材料(如金刚石、非晶金刚石薄膜、类金刚石薄膜)衬底上生长c-取向氮化铝(AlN)薄膜的方法。为了提高声表面波(SAW)器件的工作频率,一种有效的方法就是在高声速材料衬底上沉积压电薄膜。本发明通过引入...
王连卫林成鲁刘彦松宋志棠刘尔凯
文献传递
一种在高声速材料衬底上生长氮化铝压电薄膜的方法
本发明涉及一种在高声速材料(如金刚石、非晶金刚石薄膜、类金刚石薄膜)衬底上生长c-取向氮化铝(AlN)薄膜的方法。为了提高声表面波(SAW)器件的工作频率,一种有效的方法就是在高声速材料衬底上沉积压电薄膜。本发明通过引入...
王连卫林成鲁刘彦松宋志棠刘尔凯
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