郭晓宇
- 作品数：11 被引量：12H指数：2
- 供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术电气工程更多>>
- 基于运放测试大输入范围ADC电路的设计被引量：2
- 2017年
- 为测试大输入范围的ADC电路,综合考虑测试机的输出信号能力以及ADC输入范围要求,设计出合适的放大电路来扩展ATE输出信号范围,并根据噪声分析理论以及ADC电路参数测试对运放性能的要求选择前端驱动放大器。通过测试ADI公司AD7894的实例对比使用两种不同运放电路的实际测试效果表明计算公式有效可行,放大器的分析选择科学合理,为基于运放扩展ATE输出信号范围测试大输入范围ADC电路的设计提供可靠依据。
- 郭晓宇
- 关键词：运放模数转换器信噪比总谐波失真自动测试系统
- 一种高压栅极驱动芯片的测试方法及装置
- 本发明公开一种高压栅极驱动芯片的测试方法，属于集成电路测试领域。上位机下发激励信号至测试PCB板；被测芯片输出低压驱动信号到测试模块；测试模块对被测芯片的低压功能和参数进行测试，并将测试结果回传到上位机；上位机下发激励信...
- 张鹏辉郭晓宇王建超
- 基于ATE的高速高精度ADC测试方法
- 2023年
- 目前高速高精度的ADC在通信技术,雷达技术等领域得到广泛应用。传统ADC测试方法使用ATE测试机台提供生产测试,ATE板卡提供的时钟源和信号已无法满足此类ADC的测试需求。通过分析时钟抖动和相位抖动对ADC参数的影响估算测试性能,同时给出基于ATE的高速高精度ADC测试方法,使用更小相位抖动的时钟信号和更小相位噪声的信号源作为模拟输入,并使用加窗算法解决频谱泄露,大幅提高高速高精度的ADC动态参数的测试精度。以AD9268为例,使用该文基于ATE的测试方法,可实现125 MS/s采样率下达到16位ADC动态参数典型值的测试需求。
- 刘雨涛郭晓宇韩先虎王建超
- 关键词：ATE模数转换器信噪比抖动相位噪声
- 基于T861测试系统的皮安级漏电流测试方法被引量：5
- 2018年
- 目前模拟开关的漏电流已达到皮安级,而传统的模拟集成电路测试系统的最小测量精度一般为纳安级,无法满足测试要求。研究了基于宏邦T861数模混合集成电路测试系统的皮安级漏电流测试方法。以ADG436型模拟开关电路为例,利用I-V转换方法设计了基于T861测试系统的漏电流测试方案,实现了基于测试系统对模拟开关皮安级漏电流进行测试。与使用安捷伦B1500A对ADG436电路的漏电流测试结果进行了对比,两者一致性较好。实验结果表明,基于T861测试系统的I-V转换方法测试模拟开关的漏电流具有较高的测量精度,能够满足ADG436型模拟开关的皮安级漏电流测试需求。
- 韩先虎张凯虹王建超郭晓宇
- 关键词：模拟开关漏电流
- 一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法
- 本发明涉及集成电路测试技术领域，特别涉及一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，包括信号驱动模块和自动测试系统；所述信号驱动模块通过接入所述自动测试系统产生的方波信号DDD，输出可调幅度的方波信号SIG，并作为输入信...
- 李灿程法勇王建超郭晓宇
- 基于FLOTOX结构的抗辐射EEPROM存储单元结构
- 本实用新型涉及一种基于FLOTOX结构的抗辐射EEPROM存储单元的结构。该设计解决了由辐射所产生的总剂量效应(TID)对FLOTOX结构EEPROM存储单元漏电的影响。本实用新型由下列部分组成：1、利用环形栅设计对EE...
- 封晴王晓玲田海燕周昕杰郭晓宇
- 文献传递
- 基于FLOTOX结构的抗辐射EEPROM存储单元结构
- 本发明涉及一种基于FLOTOX结构的抗辐射EEPROM存储单元的结构。该设计解决了由辐射所产生的总剂量效应(TID)对FLOTOX结构EEPROM存储单元漏电的影响。本发明由下列部分组成：1、利用环形栅设计对EEPROM...
- 封晴王晓玲田海燕周昕杰郭晓宇
- 一种基于应用模式的DSP测试技术被引量：5
- 2018年
- 随着集成电路技术的飞速发展,DSP广泛应用于视频和通信领域,包括移动蜂窝网络和宽带无线基站以及国防军事装备。为筛选出合格的元器件,其测试技术得到重视及研究。简要介绍了DSP的重要组成部分,提出一种基于应用模式的DSP测试方法。研究使用测试机代替实装测试板测试的新方法,使用测试机代替Flash向DSP电路灌入相应程序,将实装功能测试部分移植到测试机上实现,同时可以在测试机上实现一些简单的直流参数测试。最后通过代码指令解读,可以全面掌握TI公司TMS320C6000系列DSP电路的程序加载过程,实现正向开发TI公司TMS320C6000系列DSP电路测试代码。
- 武乾文奚留华郭晓宇
- 关键词：DSP
- 基于ATE的传输延迟测试方法优化
- 2023年
- 目前利用数模混合集成电路自动测试机(ATE)测试系统测试纳秒级传输延迟时,由于信号发生单元驱动能力限制,多采用程控外接仪器进行测试,大批量测试时无法满足生产需求。文中介绍数模混合集成ATE测试系统的工作架构和传输延迟时间的测试原理,分析了基于数模混合ATE测试系统的时间测量单元(TMU)的工作原理和采用程控外接仪器的时间测试方法,通过对两种测试方法的对比,总结了优化TMU测试方法取代程控外接仪器的必要性。以MOSFET为研究对象,研究导致传输延迟测量误差的原因,通过增强ATE的信号驱动能力优化了TMU测试方法。试验结果表明,优化后传输延迟测试方法与MOSFET器件规范中的典型值基本一致,并且提高了测试效率,满足了大批量测试的需求。
- 李灿韩先虎程法勇郭晓宇王建超
- 关键词：集成电路程控MOSFET
- 内嵌DC/DC转换器的ARINC 429控制器测试方法研究
- 2023年
- 本文针对内嵌DC/DC转换器的ARINC 429控制器的功能和参数,总结了ARINC 429控制器关键参数的测试方法。采用某模拟测试系统联合某数字测试系统相结合的组合测试方案,解决了单个测试系统无法测试HI-35XX的难题,为后续解决其它高速总线与接口电路测试问题提供了有效途径。
- 王建超郭晓宇
- 关键词：DC/DC转换器
