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刘志超
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哈尔滨工业大学
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相关领域:
自动化与计算机技术
电子电信
金属学及工艺
文化科学
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合作作者
程健
哈尔滨工业大学
赵林杰
哈尔滨工业大学
陈明君
哈尔滨工业大学
王健
哈尔滨工业大学
许乔
哈尔滨工业大学
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作者
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刘志超
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一种紫外光学元件加工表面微区电子缺陷能级确定方法
一种紫外光学元件加工表面微区电子缺陷能级确定方法,属于工程光学领域,本发明为解决现有技术中缺乏一种简单、可靠的微区电子缺陷能级确定方法的问题,本发明方法具体按如下步骤进行:步骤一、获取紫外光学元件表面微区微缺陷在不同激发...
程健
程旭盟
陈明君
赵林杰
刘赫男
杨丁槐
崔江
刘志超
王健
一种紫外光学元件激光诱导周期性结构的预测方法
本发明提供一种紫外光学元件激光诱导周期性结构的预测方法,属于工程光学技术领域。为解决现有技术中对紫外光学元件激光诱导微结构的形成理论及工艺技术尚不完善,需要通过大量探索性实验对紫外光学元件激光诱导周期性结构进行研究的问题...
程健
杨丁槐
陈明君
赵林杰
刘赫男
王景贺
刘志超
王健
许乔
一种缺陷诱导激光损伤动态行为中引入的应力波辨识方法
本发明提供了一种缺陷诱导激光损伤动态行为中引入的应力波辨识方法,属于工程光学技术领域。为解决现有探究KDP晶体在激光损伤过程中的力学响应时,未考虑多种应力波间相互影响,难以构件应力波与损伤关联的问题。基于损伤动力学有限元...
陈明君
丁雯钰
赵林杰
程健
刘志超
汪圣飞
许乔
胡健睿
陈广
雷鸿钦
一种熔融石英光学元件加工表面缺陷区引发激光损伤初期能量沉积计算方法
一种熔融石英光学元件加工表面缺陷区引发激光损伤初期能量沉积计算方法,它属于工程光学领域,本发明为解决现有技术缺乏有效的方法用于计算或表征熔融石英光学元件加工表面缺陷区引发激光损伤初期能量沉积的问题;本发明按如下步骤进行:...
程健
杨丁槐
陈明君
赵林杰
刘赫男
王振华
王景贺
刘志超
王健
许乔
一种大口径光学晶体表面微缺陷检测用的图像拼接方法
一种大口径光学晶体表面微缺陷检测用的图像拼接方法,涉及一种微缺陷检测用的图像拼接方法。本发明为了解决目前的缺陷检测中大口径晶体的图像采集和缺陷识别环节耗费时间较长的问题。本发明首先对待测大口径晶体元件表面区域进行扫描,并...
程健
陈明君
左泽轩
刘启
杨浩
赵林杰
王廷章
刘志超
王健
许乔
大口径光学晶体表面微缺陷的快速寻位与批量检测方法
大口径光学晶体表面微缺陷的快速寻位与批量检测方法,属于光学工程领域。本发明为了解决大口径光学晶体表面微缺陷的批量、快速和精确检测的难题而提出的。本方法首先采用“连续运动采集”的光栅扫描方式对整块晶体元件完整扫描;然后,通...
程健
陈明君
左泽轩
刘启
杨浩
赵林杰
王廷章
刘志超
王健
许乔
文献传递
一种光学材料激光损伤过程中冲击波波速预测方法
本发明提供了一种光学材料激光损伤过程中冲击波波速预测方法,属于工程光学技术领域。为解决现有技术泵浦‑探测超快时间分辨阴影成像实验难以识别冲击波形成初期这一关键阶段的冲击波波速;且实验过程中需要重复进行大量损伤性试验,而针...
程健
杨丁槐
陈明君
赵林杰
刘赫男
王景贺
刘志超
王健
许乔
一种紫外光学元件加工表面微区电子缺陷能级确定方法
一种紫外光学元件加工表面微区电子缺陷能级确定方法,属于工程光学领域,本发明为解决现有技术中缺乏一种简单、可靠的微区电子缺陷能级确定方法的问题,本发明方法具体按如下步骤进行:步骤一、获取紫外光学元件表面微区微缺陷在不同激发...
程健
程旭盟
陈明君
赵林杰
刘赫男
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刘志超
王健
文献传递
一种熔融石英光学元件加工表面缺陷区引发激光损伤初期能量沉积计算方法
一种熔融石英光学元件加工表面缺陷区引发激光损伤初期能量沉积计算方法,它属于工程光学领域,本发明为解决现有技术缺乏有效的方法用于计算或表征熔融石英光学元件加工表面缺陷区引发激光损伤初期能量沉积的问题;本发明按如下步骤进行:...
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一种大口径光学晶体表面微缺陷检测用的图像拼接方法
一种大口径光学晶体表面微缺陷检测用的图像拼接方法,涉及一种微缺陷检测用的图像拼接方法。本发明为了解决目前的缺陷检测中大口径晶体的图像采集和缺陷识别环节耗费时间较长的问题。本发明首先对待测大口径晶体元件表面区域进行扫描,并...
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