郑廷圭
- 作品数：20 被引量：22H指数：3
- 供职机构：信息产业部电子第五研究所更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术经济管理更多>>
- 电子元器件失效分析实例被引量：2
- 1997年
- 郑廷圭李少平徐爱斌
- 关键词：电子元器件
- 微波放大器自激振荡的分析定位
- 2002年
- 介绍了对一种进口微波放大器在静态条件下产生自激振荡的原因进行分析的案例。在保证不破坏原有现象和尽量保证样品完整性的前提下，采用各种技术手段，成功地进行了分析定位。确定导致样品自激振荡的直接原因是：第３级放大管反馈回路中的电容特性退化。
- 来萍郑廷圭
- 关键词：微波放大器自激振荡可靠性
- 双极型微波功率晶体管热失效原因分析
- 本文阐述了双极型微波功率晶体管的主要失效模式及失效机理,重点分析了热应力导致的失效,介绍了两个典型的失效分析案例,并提出对功率管进行优选的措施.
- 李萍来萍郑廷圭
- 关键词：微波晶体管热应力
- 文献传递
- PCBA-PTH焊点失效原因分析被引量：2
- 2005年
- 介绍了一例典型的PCB过波峰焊后焊点润湿不良原因分析的案例。分析结果表明由于孔壁镀层厚度太薄、冲孔(钻孔)质量差以及孔焊盘锡铅镀层太薄等原因导致焊点润湿不良。
- 贺光辉罗道军郑廷圭
- 关键词：印制电路板镀层厚度
- 双极型微波功率晶体管热失效原因分析
- 本文阐述了双极型微波功率晶体管的主要失效模式及失效机理,重点分析了热应力导致的失效,介绍了两个典型的失效分析案例,并提出对功率管进行优选的措施。
- 李萍来萍郑廷圭
- 关键词：二次击穿
- 文献传递
- 国产A/D(模/数)、D/A/(数/模)转换器失效模式和失效机理研究
- 1999年
- 国产Ａ／Ｄ（模／数）、Ｄ／Ａ（数／模）转换器是重点电子产品，属大规模集成电路。我国军用和重点工程对Ａ／Ｄ、Ｄ／Ａ的需求很大，而目前高位数和高精度的该类产品主要仍靠进口。本文通过研究其失效模式和失效机理，可暴露存在问题，总结经验教训，寻找改进措施，促进该类产品研制与生产水平的提高，以利于国产Ａ／Ｄ、Ｄ／Ａ的进一步开发和发展。
- 徐爱斌郑廷圭施明哲罗宏伟谭超元李少平
- 关键词：A/D转换器失效模式D/A转换器
- 半导体器件参数退化失效分析被引量：3
- 1996年
- 1 前言电参数漂移、超差或退化是半导体器件常见的失效模式。这类失效会导致产品合格率不高;使得成品器件档次下降;更严重的是还会影响整机的寿命和可靠性.引起这类失效的原因很多,如材料缺陷,生产工艺欠佳,使用条件、环境所致等等.但要对参漂或退化的器件进行分析时,由于这类失效的原因复杂,失效部位难寻,不像分析致命失效那样较直观,往往不易找到其失效原因。因此,如何准确确定这类失效器件的失效原因,是半导体器件生产厂家和用户长期以来乃至今依然十分关注的问题.本文通过两种型号晶体管的失效分析实例,介绍了对半导体器件参数退化失效原因的诊断分析方法。
- 徐爱斌郑廷圭
- 关键词：半导体器件可靠性
- MAL100A光电晶体管失效机理分析与改进措施
- 通过对MAL100A光电晶体管的失效分析，弄清了该器件的失效模式和失效机理，并提出了相应的改进措施。
- 罗宏伟郑廷圭
- 关键词：光电晶体管
- 梳状谐波发生器的失效原因分析
- 2004年
- 介绍了对一进口梳状谐波发生器功能失效样品进行分析的案例。分析结果表明,失效原因是导电胶粘接导致的键合失效,这也是目前国内微波模块中最常见的失效原因之一。通过对失效部位的修补,恢复了失效样品的功能,从而也验证了失效定位和原因分析的准确性。
- 来萍李萍郑廷圭
- 关键词：谐波发生器键合粘接
- S波段四位PIN数字移相器按地孔失效机理与分析
- 该文通过对S波段四位PIN数字移相器的失效分析，确定了导电胶涂覆后再电镀金层的接地孔金属化工艺使导电层的粘附性和均匀性差，在外部应力变化或内应力释放作用下导致开路或退化;接地孔孔径小和底座热容量大，在焊料灌注时易形成空洞...
- 黄云来萍郑廷圭
- 关键词：数字移相器导电胶
- 文献传递
