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马迎姿

作品数:2 被引量:8H指数:1
供职机构:河北工业大学信息工程学院微电子技术与材料研究所更多>>
发文基金:天津市自然科学基金河北省自然科学基金国家科技重大专项更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇带宽
  • 1篇仪表
  • 1篇仪表放大器
  • 1篇抑制比
  • 1篇折叠共源共栅
  • 1篇铜互连
  • 1篇铜互连线
  • 1篇面粗糙度
  • 1篇磨料
  • 1篇互连
  • 1篇互连线
  • 1篇化学机械抛光
  • 1篇机械抛光
  • 1篇角度传感器
  • 1篇共模
  • 1篇共模抑制
  • 1篇共模抑制比
  • 1篇共源共栅
  • 1篇放大器
  • 1篇感器

机构

  • 2篇河北工业大学
  • 1篇天津大学

作者

  • 2篇田雨
  • 2篇马迎姿
  • 1篇刘效岩
  • 1篇王胜利
  • 1篇刘玉岭
  • 1篇檀柏梅
  • 1篇宋益伟
  • 1篇赵毅强
  • 1篇邢少川

传媒

  • 2篇半导体技术

年份

  • 2篇2011
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
300mm铜膜低压低磨料CMP表面粗糙度的研究被引量:7
2011年
随着集成电路特征尺寸的减小、低k介质的引入及晶圆尺寸的增加,如何保证在低压无磨料条件下完成大尺寸铜互连线平坦化已经成为集成电路制造工艺发展的关键。采用法国Alpsitec公司的E460E抛光机在低压低磨料的条件下,研究了12英寸(1英寸=25.4 mm)无图形(blanket)铜膜CMP工艺和抛光液配比对抛光表面质量的影响。实验结果表明,在压力为0.65 psi(1 psi=6.89×103 Pa),抛光液主要成分为体积分数分别为5%的螯合剂、2%的氧化剂和3%的表面活性剂。抛光后表面无划伤,表面非均匀性为0.085,抛光速率为400 nm.min-1,表面粗糙度为0.223 nm,各参数均满足工业化生产的需要。
田雨王胜利刘玉岭刘效岩邢少川马迎姿
关键词:铜互连线粗糙度化学机械抛光
一种用于角度传感器中的仪表放大器被引量:1
2011年
主要设计了一种用于角度传感器系统中的仪表放大器。为了满足角度传感器系统中对信号频率的要求,需要仪表放大器的带宽足够宽能够达到3.3 MHz。该电路采用标准三运算放大器结构电路,以折叠共源共栅结构的放大器为基础,对共模信号进行抑制,对差分信号进行放大,提高了放大器的精度,增大了仪表放大器的带宽。采用Chartered 0.35μm CMOS双栅工艺对电路进行仿真和流片验证,测试结果表明:在0.8~2.85 V内,仪表放大器的共模抑制比达到了102 dB,带宽能够达到3.3 MHz,输出摆幅为1.7 V,电路功能良好,达到了设计要求,该电路可用于汽车电子以及医疗设备系统。
马迎姿檀柏梅赵毅强宋益伟田雨
关键词:仪表放大器角度传感器共模抑制比高带宽折叠共源共栅
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