刘勇
- 作品数:1 被引量:0H指数:0
- 供职机构:四川大学材料科学与工程学院更多>>
- 发文基金:国家教育部博士点基金更多>>
- 相关领域:理学更多>>
- AgGa_(0.6)In_(0.4)Se_2晶体的制备与表征
- 2011年
- 以高纯单质为原料,按AgGa1-xInxSe2(x=0.4)化学计量配比配料(富1%Se),在双层石英安瓿中,用机械和温度振荡相结合的方法,合成出高纯单相多晶料。差热分析表明,其熔点和凝固点分别为804.3℃和775.6℃。采用带有籽晶袋、内壁镀碳的双层石英安瓿,用改进的垂直布里奇曼法生长出尺寸为Φ20 mm×60 mm、结构完整的AgGa0.6In0.4Se2单晶体。经X射线衍射仪和红外分光光度计等分析表明,晶体为黄铜矿结构,晶格常数为a=0.602 32 nm,c=1.118 33 nm,其显露面和易解理面为(112)面;厚度约为2 mm的晶片在波长0.836~19.65μm范围内透过率接近或超过60%,禁带宽度约为1.48 eV。结果表明,改进方法生长的AgGa1-xInxSe2晶体的结构完整,光学质量高,可用于中远红外非线性光学器件制备。
- 万书权朱世富赵北君陈宝军何知宇许建华刘勇
- 关键词:单晶性能表征光学材料