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文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇英文
  • 1篇微波开关
  • 1篇温度特性
  • 1篇开关
  • 1篇DC
  • 1篇EEACC
  • 1篇MEMS开关

机构

  • 1篇河北半导体研...
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作者

  • 1篇娄建忠
  • 1篇李倩
  • 1篇顾洪明
  • 1篇胡小东
  • 1篇吕苗
  • 1篇赵正平

传媒

  • 1篇Journa...

年份

  • 1篇2004
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
一种DC~5GHz串联微波开关的温度特性和功率处理能力的测试与分析(英文)被引量:2
2004年
描述了一种串联微波 MEMS开关的设计、制造过程 ,它制作在玻璃衬底上 ,采用金铂触点 ,在 DC~ 5 GHz,插损小于 0 .6 d B,隔离度大于 30 d B,开关时间小于 30μs.对这种微波开关的温度特性和功率处理能力进行了测试 ,在DC~ 4 GHz,85℃下的插损增加了 0 .2 d B,- 5 5℃下的插损增加了 0 .4 d B,而隔离度基本保持不变 .在开关中流过的连续波功率从 1 0 d Bm上升到 35 .1 d Bm ,开关的插损下降了 0 .1~ 0 .6 d B,并且在 35 .1 d Bm (3.2 4 W)下开关还能工作 .和所报道的并联开关最大处理功率 (4 2 0 m W)相比 。
吕苗赵正平娄建忠顾洪明胡小东李倩
关键词:MEMS开关温度特性EEACC
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