卢凌云
- 作品数：4 被引量：6H指数：2
- 供职机构：中国科学院电子学研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 基于部分重构的SRAM型FPGA单粒子翻转模拟被引量：3
- 2015年
- 介绍了一种基于部分重构技术的SRAM型FPGA单粒子翻转模拟方法.针对SRAM型FPGA的单粒子翻转特性,建立了一种能够模拟不同线性能量转移(LET)值和注量率(Flux)重离子入射的故障注入模型.该模拟方法可用于对SRAM型FPGA应用电路采用的抗辐照加固效果进行定量预评估,验证不同加固方案的有效性,同时还可减少辐照试验的次数,降低试验成本.基于Virtex-4SRAM型FPGA,针对三模冗余(TMR)的单粒子翻转加固方法进行了定量评估.评估试验结果表明,该方法较好地模拟了入射粒子LET值和系统电路失效率之间的关系,验证了三模冗余加固方法的有效性.
- 李林徐宇卢凌云贾海涛蔡刚李悦杨海钢
- 基于定向故障注入的SRAM型FPGA单粒子翻转效应评估方法
- 2017年
- 介绍了一种基于定向故障注入的SRAM型FPGA单粒子翻转效应评估方法。借助XDL工具,该方法解析了Virtex-4SX55型FPGA的帧地址与物理资源之间的对应关系;将电路网表中的资源按模块分组,利用部分重构技术分别对电路整体及各分组相关的配置帧进行随机故障注入,以评估电路整体及其子模块的抗单粒子翻转能力;按模块分组对电路分别进行部分三模冗余(TMR)加固和故障注入实验,以比较不同加固方案的效果。实验结果表明:电路的抗单粒子翻转能力与其功能和占用的资源有关;在FPGA资源不足以支持完全TMR的情况下,该方法可以帮助设计者找到关键模块并进行有效的电路加固。
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- 单粒子翻转加固锁存器分析与辐照试验验证被引量：3
- 2016年
- 对目前基于软错误屏蔽、施密特触发及双互锁单元结构的几种单粒子翻转加固锁存器进行分析,并从面积、延时、功耗和抗单粒子翻转能力等方面进行综合比较。着重剖析了DICE结构的多节点翻转特性,研究了敏感节点隔离对抗单粒子翻转能力的影响,设计了测试芯片,并进行了辐照试验验证。辐照试验结果表明,相比于其他加固锁存器结构,DICE结构的单粒子翻转阈值最高,翻转截面最低,功耗延时积最小。当敏感节点隔离间距由0.21μm增大到2μm时,DICE结构的单粒子翻转阈值增大157%,翻转截面减小40%,面积增大1倍。在DICE结构中使用敏感节点隔离可有效提高抗单粒子翻转能力,但在具体的设计加固中,需要在抗辐照能力、面积、延时和功耗之间进行折中考虑。
- 李天文杨海钢蔡刚李悦卢凌云
- 关键词：辐照效应单粒子翻转锁存器
- 一种基于辐照试验环境模拟的SRAM型FPGA测试方法
- 本发明提供了一种基于辐照试验环境模拟的SRAM型FPGA测试方法，对采用SRAM型FPGA实现的电路进行故障注入，通过持续向电路中注入随机地址和随机类型的单粒子翻转故障，模拟地面辐照试验中入射粒子LET值、注量率Flux...
- 杨海钢李林蔡刚贾海涛李悦卢凌云徐宇
- 文献传递
