徐宇
- 作品数:5 被引量:7H指数:2
- 供职机构:中国科学院电子学研究所更多>>
- 发文基金:国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划更多>>
- 相关领域:电子电信更多>>
- 基于部分重构的SRAM型FPGA单粒子翻转模拟被引量:3
- 2015年
- 介绍了一种基于部分重构技术的SRAM型FPGA单粒子翻转模拟方法.针对SRAM型FPGA的单粒子翻转特性,建立了一种能够模拟不同线性能量转移(LET)值和注量率(Flux)重离子入射的故障注入模型.该模拟方法可用于对SRAM型FPGA应用电路采用的抗辐照加固效果进行定量预评估,验证不同加固方案的有效性,同时还可减少辐照试验的次数,降低试验成本.基于Virtex-4SRAM型FPGA,针对三模冗余(TMR)的单粒子翻转加固方法进行了定量评估.评估试验结果表明,该方法较好地模拟了入射粒子LET值和系统电路失效率之间的关系,验证了三模冗余加固方法的有效性.
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- FPGA双端口存储器映射优化算法被引量:4
- 2020年
- FPGA存储器映射算法负责将用户的逻辑存储需求映射到芯片中的分布式存储资源上实现。前人对双端口存储器的映射算法研究相对较少,成熟的商业EDA工具的映射结果仍有不少改进空间。该文分别针对面积、延时、功耗这3个常用指标,提出一种双端口存储器映射的优化算法,并给出了具体配置方案。实验表明,在面向简单存储需求时,与商用工具Vivado的映射结果一致;在面向复杂存储需求时,面积优化和功耗优化的映射结果对比商用工具改善了至少50%。
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- 关键词:FPGA面积优化功耗优化
- 基于定向故障注入的SRAM型FPGA单粒子翻转效应评估方法
- 2017年
- 介绍了一种基于定向故障注入的SRAM型FPGA单粒子翻转效应评估方法。借助XDL工具,该方法解析了Virtex-4SX55型FPGA的帧地址与物理资源之间的对应关系;将电路网表中的资源按模块分组,利用部分重构技术分别对电路整体及各分组相关的配置帧进行随机故障注入,以评估电路整体及其子模块的抗单粒子翻转能力;按模块分组对电路分别进行部分三模冗余(TMR)加固和故障注入实验,以比较不同加固方案的效果。实验结果表明:电路的抗单粒子翻转能力与其功能和占用的资源有关;在FPGA资源不足以支持完全TMR的情况下,该方法可以帮助设计者找到关键模块并进行有效的电路加固。
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- 拆分粒度对FPGA可拆分逻辑结构性能的影响
- 2017年
- 可编程逻辑块是现场可编程门阵列(FPGA)的核心组成部分(主要由查找表(LUT)和寄存器构成),它的内部结构设计一直是研究的重要方向。可拆分逻辑结构给电路实现带来了灵活性。本文以6-LUT作为研究对象,从拆分粒度的角度出发,研究不同的可拆分因子(N=1,2,3,4)对电路性能带来的影响。仿真实验基于开源的FPGA CAD工具(ABC和VPR)和VPR测试电路集,实验结果表明:a)不同可拆分因子对电路关键路径延时影响不大;b)可拆分因子为2时,电路使用资源的面积和面积-延时积均最小,呈现更好的性能。
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- 关键词:现场可编程门阵列
- 一种基于辐照试验环境模拟的SRAM型FPGA测试方法
- 本发明提供了一种基于辐照试验环境模拟的SRAM型FPGA测试方法,对采用SRAM型FPGA实现的电路进行故障注入,通过持续向电路中注入随机地址和随机类型的单粒子翻转故障,模拟地面辐照试验中入射粒子LET值、注量率Flux...
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