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林枫

作品数:2 被引量:4H指数:1
供职机构:天津大学精密仪器与光电子工程学院精密测试技术及仪器国家重点实验室更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划更多>>
相关领域:一般工业技术金属学及工艺机械工程更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇机械工程
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 2篇离子束
  • 2篇离子束加工
  • 2篇聚焦离子束
  • 1篇高斯
  • 1篇高斯分布
  • 1篇ION
  • 1篇FIB
  • 1篇FOCUSE...
  • 1篇BEAM

机构

  • 2篇天津大学

作者

  • 2篇徐宗伟
  • 2篇林枫
  • 1篇李康
  • 1篇贾瑞丽

传媒

  • 1篇天津大学学报...
  • 1篇纳米技术与精...

年份

  • 2篇2015
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
聚焦离子束加工微锥形结构的制造误差分析被引量:1
2015年
聚焦离子束(FIB)纳米制造技术已经成为微纳米尺度功能器件加工的一种重要方法,利用聚焦离子束直写加工可实现复杂二维微纳结构的高精度制造.然而由于离子溅射产额随入射角度非线性变化规律、再沉积现象及离子束能量分布特性的综合影响,FIB在三维结构加工中会存在复杂形貌误差.针对FIB加工凹面中存在的典型平底现象这一形貌误差进行了分析和实验研究,通过仿真分析和FIB加工直径4,μm锥形凹坑结构的实验验证,阐明了聚焦离子束高斯能量分布特性与溅射产额规律耦合是产生平底现象的主要原因,为FIB三维结构加工的误差的修正提供了重要的基础和依据.
徐宗伟申雪岑李云涛李康林枫贾瑞丽
关键词:聚焦离子束高斯分布
微粒检测用微孔的聚焦离子束加工及其验证平台搭建被引量:3
2015年
库尔特原理是微粒检测的一种标准技术,而微纳尺度微孔的制造是库尔特原理的关键部分.本文采用聚焦离子束(FIB)技术进行固态微孔的加工,并自行设计搭建基于FPGA的测试平台对加工出的微孔进行检测.测试结果表明:采用该技术加工的固态微孔能够产生基准电流信号,但是基准信号会随时间变化,且随着输入电压的变化呈非线性变化.
林枫徐宗伟申雪岑
关键词:聚焦离子束FOCUSEDIONBEAM
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